[发明专利]一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置在审
| 申请号： | 201510962286.6 | 申请日： | 2015-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN105572043A | 公开（公告）日： | 2016-05-11 |
| 发明（设计）人： | 张文龙;苗亮;刘钰;王辉;周烽;郭本银;马冬梅;金春水 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/45 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 南小平 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光学 均匀 测试 柔性 支撑 装置 | ||
1.一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置，其特征在于，包括片体底板 (1)、柔性片体(2)、片体顶板(3)和限位块(4)；
多个所述柔性片体(2)一端均匀设置在圆环形的片体底板(1)和圆环形 的片体顶板(3)之间，另一端位于片体底板(1)和片体顶板(3)的中空区域， 多个所述限位块(4)一端的下表面均匀固定在所述片体顶板(3)上端面上， 所述限位块(4)的另一端的侧壁和被测试样品(5)外圆柱面接触。
2.根据权利要求1所述的一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置，其特 征在于，多个所述柔性片体(2)上表面位于同一水平高度。
3.根据权利要求1或2所述的一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置， 其特征在于，所述柔性片体(2)的数量的取值范围为：3-16。
4.根据权利要求1或2所述的一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置， 其特征在于，所述柔性片体(2)的厚度的取值范围为：0.1-0.5mm。
5.根据权利要求1或2所述的一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置， 其特征在于，所述柔性片体(2)的长度的取值范围为：10-30mm。
6.根据权利要求1或2所述的一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置， 其特征在于，所述柔性片体(2)的材料为钢。
7.根据权利要求1所述的一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置，其特 征在于，所述限位块(4)的数量为三个。
8.根据权利要求1所述的一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置，其特 征在于，所述限位块(4)和被测试样品(5)外圆柱面的接触面为半圆柱面。
9.根据权利要求1所述的一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置，其特 征在于，所述圆环形的片体底板(1)和圆环形的片体顶板(3)的中空区域在 用于干涉法测量光学均匀性时通光。
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