[发明专利]一种高精度曲率半径测试装置及方法在审
申请号: | 201510962288.5 | 申请日: | 2015-12-21 |
公开(公告)号: | CN105571481A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 张文龙;苗亮;刘钰;于杰;张海涛;马冬梅;金春水 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01B7/293 | 分类号: | G01B7/293 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 南小平 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高精度 曲率 半径 测试 装置 方法 | ||
1.一种高精度曲率半径测试装置,包括干涉测量系统(1)和双频激光器 (2),其特征在于,还包括导光元件(3)、平移倾斜调整台(5)、Z向移动台(6)、 反射角锥(7)和导轨(8);
所述平移倾斜调整台(5)设置在所述Z向移动台(6)上,所述Z向移动 台(6)任意相对的两个侧壁和所述导轨(8)配合上下滑动,被测试球面镜(4) 设置在所述平移倾斜调整台(5)上,所述Z向移动台(6)上表面均匀设置多 个反射角锥(7),每个反射角锥(7)上方垂直位置设置有导光元件(3),干涉 测量系统(1)辐射出的光经被测试球面镜(4)成成干涉测量光路(9),所述 干涉测量光路(9)经干涉测量系统(1)获得干涉图,所述双频激光器(2)出 射的激光经多个导光元件(3)分成多束,分束后的激光分别垂直入射到多个反 射角锥(7),经多个反射角锥(7)反射形成双频激光干涉位移测量光路(10)。
2.根据权利要求1所述的一种高精度曲率半径测试装置,其特征在于,所 述多个反射角锥(7)具体指三个。
3.根据权利要求1或2所述的一种高精度曲率半径测试装置,其特征在于, 所述导光元件(3)为测试光角锥。
4.根据权利要求1所述的一种高精度曲率半径测试装置,其特征在于,所 述干涉测量系统(1)包括一个高精度数字波面干涉仪。
5.根据权利要求1所述的一种高精度曲率半径测试装置的测试方法,其特 征在于,包括以下步骤:
步骤一:调整导光元件(3)的位置,使经多个导光元件(3)分束后的测 试光和导轨(8)运动方向平行;
步骤二:将被测试球面镜(4)安置在所述平移倾斜调整台(5)上,调整Z 向移动台(6)的位置,使被测试球面镜(4)位于猫眼位置,将双频激光器(2) 示数置于零;
步骤三:上下调整Z向移动台(6)位置,使被测试球面镜(4)移动到共 焦位置;
步骤四:调整平移倾斜调整台(5)的位置,使干涉测量系统(1)中的干 涉图为零条纹;
步骤五:双频激光器(2)出射的激光经多个导光元件(3)分成多束,分 束后的激光分别垂直入射到多个反射角锥(7),经多个反射角锥(7)反射形成 多路双频激光干涉位移测量光路(10),获得在共焦位置时多组Z向移动台(6) 位置结果;
步骤六:将步骤五中获得的多组Z向移动台(6)位置结果取平均值,作为 被测试球面镜(4)的曲率半径,完成测试。
6.根据权利要求5所述的一种高精度曲率半径测试方法,其特征在于,所 述多个反射角锥(7)具体指三个。
7.根据权利要求5或6所述的一种高精度曲率半径测试方法,其特征在于, 所述干涉测量系统(1)包括一个高精度数字波面干涉仪。
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