[发明专利]一种薄膜测厚仪

权利要求书

1.一种薄膜测厚仪，包括工作台(1)、转动杆(2)，所述转动杆(2)设置在工作台(1)的一端，其特征在于：所述工作台(1)的正上方设有发射装置(3)，所述发射装置(3)包括升降装置(4)、微调器(5)、第一中心线监测器(6)、发射探头(7)，所述升降装置(4)的上端连接微调器(5)，所述升降装置(4)的两侧固定连接夹紧块(8)，所述升降装置(4)的下端连接第一中心线监测器(6)及发射探头(7)，所述工作台(1)的内部设有驱动滑轨(9)，所述驱动滑轨(9)上设有相配合的滑块(10)，所述滑块(10)的上端设有接收器(11)及第二中心线监测器(12)，所述滑块(10)上设有定位调节器(13)，所述定位调节器(13)上设有卡槽(1301)及固定孔(1302)，所述驱动滑轨(9)与工作台(1)的内壁接触的一侧设有匀速控制器(14)，所述工作台(1)与转动杆(2)相对的一端设有固定装置(15)，所述固定装置(15)的底部一侧设有角度调节块(16)，另一侧设有固定压块(17)，所述固定装置(15)的前端设有薄膜感应器(18)，所述工作台(1)的外侧设有报警装置(19)。

2.根据权利要求1所述的薄膜测厚仪，其特征在于：所述第一中心线检测器(6)、第二中心线检测器(12)与报警装置(19)通过电线相连。

3.根据权利要求2所述的薄膜测厚仪，其特征在于：所述固定压块(17)的底部与工作台(1)贴紧。

4.根据权利要求2所述的薄膜测厚仪，其特征在于：所述微调器(5)上设有微调螺栓与相配合的微调螺母。