[发明专利]一种薄膜测厚仪

说明书

技术领域

本发明属于测量装置技术领域，尤其是涉及一种薄膜测厚仪。

背景技术

薄膜测厚仪，又称为薄膜厚度检测仪，主要适用于塑料薄膜、薄片。纸张、箔片等各种材料的厚度精确测量，广泛的应用于对薄膜厚度有严格要求的薄膜生产企业、使用单位及质检机构。薄膜的厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。薄膜的厚度在很大的程度上决定了薄膜的力学性能和光学性能，因此需要精确的测量薄膜的厚度。测厚仪主要由发射单元和接收单元两部分组成，薄膜从发射单元与接收单元之间通过，即可精确测量出薄膜的厚度；但是当薄膜测厚仪在运转一定时间后，仪器中的驱动装置会有一定的损耗，导致发射头与接收器不处于同一中心线上，导致无法准确的测量，使得测量结果达不到要求，需要重新调整设备才能正常的进行测量工作，费时费力；并且在测量一些重量较轻的薄膜时，薄膜待测的表面不能平整的放置在工作台上，使得测量产生偏差，导致测量精度降低。

发明内容

本发明的目的是提供一种结构简单、操作简单、测量精度高、上下发射头与接收器处于同一中心线上、生产效率高的薄膜测厚仪。

本发明的技术方案是：一种薄膜测厚仪，包括工作台、转动杆，所述转动杆设置在工作台的一端，所述工作台的正上方设有发射装置，所述发射装置包括升降装置、微调器、第一中心线监测器、发射探头，所述升降装置的上端连接微调器，所述升降装置的两侧固定连接夹紧块，所述升降装置的下端连接第一中心线监测器及发射探头，所述工作台的内部设有驱动滑轨，所述驱动滑轨上设有相配合的滑块，所述滑块的上端设有接收器及第二中心线监测器，所述滑块上设有定位调节器，所述定位调节器上设有卡槽及固定孔，所述驱动滑轨与工作台的内壁接触的一侧设有匀速控制器，所述工作台与转动杆相对的一端设有固定装置，所述固定装置的底部一侧设有角度调节块，另一侧设有固定压块，所述固定装置的前端设有薄膜感应器，所述工作台的外侧设有报警装置。

进一步，所述第一中心线检测器、第二中心线检测器与报警装置通过电线相连。

进一步，所述固定压块的底部与工作台贴紧。

进一步，所述微调器上设有微调螺栓与相配合的微调螺母。

本发明具有的优点和积极效果是：由于采用上述技术方案，在发射探头与接收器上均设置的中心线监测器，当不处于相同中心线时会将信号发送到报警装置中，提醒实验人员调整发射探头与接收器的中心线位置，同时在工作台的一端设置的固定装置可以固定住薄膜，平整的固定薄膜位置，便于精确的测量薄膜的厚度。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

图中：

1、工作台 2、转动杆 3、发射装置

4、升降装置 5、微调器 6、第一中心线监测器

7、发射探头 8、夹紧块 9、驱动滑轨

10、滑块11、接收器12、第二中心线监测器

13、定位调节器1301、卡槽1302、固定孔

14、匀速控制器15、固定装置16、角度调节块

17、固定压块18、薄膜感应器19、报警装置

具体实施方式

下面结合附图对本发明做详细说明。

如图1所示，本发明一种薄膜测厚仪，包括工作台1、转动杆2，所述转动杆2设置在工作台1的一端，所述工作台1的正上方设有发射装置3，所述发射装置3包括升降装置4、微调器5、第一中心线监测器6、发射探头7，所述升降装置4的上端连接微调器5，所述升降装置4的两侧固定连接夹紧块8，所述升降装置4的下端连接第一中心线监测器6及发射探头7，所述工作台1的内部设有驱动滑轨9，所述驱动滑轨9上设有相配合的滑块10，所述滑块10的上端设有接收器11及第二中心线监测器12，所述滑块10上设有定位调节器13，所述定位调节器13上设有卡槽1301及固定孔1302，所述驱动滑轨9与工作台1的内壁接触的一侧设有匀速控制器14，所述工作台1与转动杆2相对的一端设有固定装置15，所述固定装置15的底部一侧设有角度调节块16，另一侧设有固定压块17，所述固定装置15的前端设有薄膜感应器16，所述工作台1的外侧设有报警装置19。

所述第一中心线检测器6、第二中心线检测器12与报警装置19通过电线相连。

所述固定压块17的底部与工作台1贴紧。

所述微调器5上设有微调螺栓与相配合的微调螺母。