[发明专利]编程器测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种编程器测试装置，包括：

夹具，用于固定待测编程器；

测试卡模块，用于采集待测编程器的测试数据；

信号源模块，用于向待测编程器发送指令信号流；

串口通讯模块，用于向待测编程器发送文件信号流；

主处理器，分别与信号源模块、串口通讯模块、测试卡模块连接，用于通过信号源模块向待测编程器发送指令信号流和/或通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流，以及通过测试卡模块获取待测编程器的测试数据；

其中，所述主处理器用于在接收到存储器检测指令时通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流；

所述主处理器用于接收所述待测编程器根据所述文件信号流输出的存储器校验数据，并根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。

2.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，所述主处理器还用于在接收到电源测试以及校准指令时向测试卡模块发送电源测试信号；

所述测试卡模块还用于根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。

3.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，所述主处理器还用于在接收到链路检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送链路检测信号流，向测试卡模块发送链路检测信号；

所述测试卡模块还用于根据所述链路检测信号采集待测编程器根据所述链路检测信号流输出的链路检测数据，并发送至所述主处理器；

所述主处理器还用于接收所述链路检测数据并根据所述链路检测数据判断链路是否异常。

4.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，所述主处理器还用于在接收到参数检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送参数检测信号流，向测试卡模块发送参数检测信号；

所述测试卡模块还用于根据所述参数检测信号采集待测编程器根据所述参数检测信号流输出的参数检测数据，并发送至所述主处理器；

所述主处理器还用于接收所述参数检测数据并根据所述参数检测数据判断参数是否异常。

5.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，所述主处理器还用于在接收到功能检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送功能检测信号流，向测试卡模块发送功能检测信号；

所述测试卡模块还用于根据所述功能检测信号采集待测编程器根据所述功能检测信号流输出的功能检测数据，并发送至所述主处理器；

所述主处理器还用于接收所述功能检测数据并根据所述功能检测数据判断功能是否异常。

6.根据权利要求1所述的编程器测试装置，其中，还包括：

人机操作接口，用于输入指令；

液晶显示模块，与所述主处理器连接，用于显示测试数据。

7.一种编程器测试方法，包括：

主处理器接收测试指令，根据所述测试指令通过信号源模块向待测编程器发送指令信号流，通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流，向测试卡模块发送测试信号；

测试卡模块根据所述测试信号采集待测编程器的测试数据；

主处理器根据所述测试数据判断待测编程器是否异常；

其中，主处理器在接收到存储器检测指令时，通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流；

待测编程器根据接收到的文件信号流将编程内容写入存储器中后校验待测编程器内的存储器内容，并将存储器校验数据通过串口通讯模块发送至主处理器；

主处理器根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。

8.根据权利要求7所述的编程器测试方法，其中，所述方法还包括：

主处理器在接收到电源测试以及校准指令时，向测试卡模块发送电源测试信号，

测试卡模块根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。