[发明专利]编程器测试装置及测试方法

说明书

公开了一种编程器测试装置包括：夹具，用于固定待测编程器；测试卡模块，用于采集待测编程器的测试数据；串口通讯模块，用于向待测编程器发送文件信号流；主处理器，分别与信号源模块、串口通讯模块、测试卡模块连接，用于通过测试卡模块获取待测编程器的测试数据。本发明还提供了一种编程器测试方法，可以单独执行某一检测指令，也可按顺序执行多个检测指令，提高检测效率，减少成本。

技术领域

本发明属于集成电路编程技术领域，更具体地，涉及一种用于批量生产编程器的测试装置及方法。

背景技术

当今科技水平的高速发展，伴随着人力成本的越来越高，可编程电路随着越来越多客户的推广应用，编程工具的实际需求量越来越大，以往人力测试生产的成本和速度已经不能满足实际的需求。由此，我们研究出一种生产测试装置，专门用于批量生产辅助测试编程工具。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于批量生产编程器的测试装置及测试方法。

根据本发明的一方面，提供一种编程器测试装置，包括：夹具，用于固定待测编程器；测试卡模块，用于采集待测编程器的测试数据；串口通讯模块，用于向待测编程器发送文件信号流；主处理器，分别与信号源模块、串口通讯模块、测试卡模块连接，用于通过测试卡模块获取待测编程器的测试数据。

优选地，所述主处理器还用于在接收到电源测试以及校准指令时向测试卡模块发送电源测试信号；所述测试卡模块还用于根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。

优选地，所述主处理器还用于在接收到链路检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送链路检测信号流，向测试卡模块发送链路检测信号；所述测试卡模块还用于根据所述链路检测信号采集待测编程器根据所述链路检测信号流输出的链路检测数据并发送至所述主处理器；所述主处理器还用于接收所述链路检测数据并根据所述链路检测数据判断链路是否异常。

优选地，所述主处理器还用于在接收到参数检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送参数检测信号流，向测试卡模块发送参数检测信号；所述测试卡模块还用于根据所述参数检测信号采集待测编程器根据所述参数检测信号流输出的参数检测数据并发送至所述主处理器；所述主处理器还用于接收所述参数检测数据并根据所述参数检测数据判断参数是否异常。

优选地，所述主处理器还用于在接收到存储器检测指令时通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流；所述主处理器还用于接收所述待测编程器根据所述文件信号流输出的存储器校验数据并根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。

优选地，所述主处理器还用于在接收到功能检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送功能检测信号流，向测试卡模块发送功能检测信号；所述测试卡模块还用于根据所述功能检测信号采集待测编程器根据所述功能检测信号流输出的功能检测数据并发送至所述主处理器；所述主处理器还用于接收所述功能检测数据并根据所述功能检测数据判断功能是否异常。

优选地，上述编程器测试装置还包括：人机操作接口，用于输入指令；液晶显示模块，与所述主处理器连接，用于显示测试数据。

根据本发明的另一方面，提供一种编程器测试方法，包括：主处理器接收测试指令，根据所述测试指令发送测试信号；测试卡模块根据所述测试信号采集待测编程器的测试数据；主处理器根据所述测试数据判断待测编程器是否异常。

优选地，所述编程器测试方法还包括：主处理器在接收到电源测试以及校准指令时，向测试卡模块发送电源测试信号，测试卡模块根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。