[发明专利]一种电子元件样本标注方法及装置

权利要求书

1.一种电子元件样本标注方法，其特征在于，包括：

获取待标注的N个电子元件样本的图像；其中，N≥1；

将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值；其中，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的第一匹配值；

计算最小的M个第一匹配值的平均值；其中，M≥1；

判断所述平均值是否小于预设的阈值；

若是，则将所述每个电子元件样本的第一匹配值作为其匹配度值；

若否，则将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值；

根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本。

2.如权利要求1所述的电子元件样本标注方法，其特征在于，所述将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的第一匹配值，具体包括：

采用模板匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第一匹配值。

3.如权利要求1所述的电子元件样本标注方法，其特征在于，所述将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值，具体包括：

采用纹理信息匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第二匹配值；

计算所述每个电子元件样本的所述第一匹配值和所述第二匹配值的平均值，并将计算获得的平均值作为所述电子元件样本的匹配度值。

4.如权利要求1至3任一项所述的电子元件样本标注方法，其特征在于，所述根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本，具体包括：

根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行升序排列，并按照排列顺序将N个电子元件样本划分为P组；P≥1；

分别对每组电子元件样本进行识别，并对识别出的所需的电子元件样本进行标注。

5.一种电子元件样本标注装置，其特征在于，包括：

样本图像获取模块，用于获取待标注的N个电子元件样本的图像；其中，N≥1；

匹配模块，用于将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值；其中，所述匹配模块具体包括：

第一匹配单元，用于将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的第一匹配值；

计算单元，用于计算最小的M个第一匹配值的平均值；其中，M≥1；

判断单元，用于判断所述平均值是否小于预设的阈值；

匹配度值获取单元，用于在所述判断单元判定为是时，将所述每个电子元件样本的第一匹配值作为其匹配度值；以及，

第二匹配单元，用于在所述判断单元判定为否时，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值; 以及，

识别标注模块，用于根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本。

6.如权利要求5所述的电子元件样本标注装置，其特征在于，所述第一匹配单元具体用于采用模板匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第一匹配值。

7.如权利要求5所述的电子元件样本标注装置，其特征在于，所述第二匹配度单元具体包括：

匹配值计算子单元，用于采用纹理信息匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第二匹配值；以及，

匹配度值获取子单元，用于计算所述每个电子元件样本的所述第一匹配值和所述第二匹配值的平均值，并将计算获得的平均值作为所述电子元件样本的匹配度值。

8.如权利要求5至7任一项所述的电子元件样本标注装置，其特征在于，所述识别标注模块具体包括：

排序单元，用于根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行升序排列，并按照排列顺序将N个电子元件样本划分为P组；以及，

识别标注单元，用于分别对每组电子元件样本进行识别，并对识别出的所需的电子元件样本进行标注。