[发明专利]一种电子元件样本标注方法及装置

说明书

本发明公开了一种电子元件样本标注方法，包括：获取待标注的N个电子元件样本的图像；其中，N≥1；将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值；根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中标注出所需的电子元件样本。相应的，本发明还公开了一种电子元件样本标注装置。采用本发明实施例，能够提高电子元件样本的标注效率。

技术领域

本发明涉及自动光学检测领域，尤其涉及一种电子元件样本标注方法及装置。

背景技术

自动光学检测(AOI,Automated Optical Inspection)为工业自动化有效的检测方法，使用机器视觉作为检测标准技术，大量应用于LCD/TFT、晶体管与PCB工业制程上。自动光学检测是工业制程中常见的代表性手法，利用光学方式取得成品的表面状态，以影像处理来检出异物或图案异常等瑕疵。

对电子元件样本进行识别和标注对自动光学检测系统来说越来越重要，识别并标注出的电子元件样本，不但可以用来作为训练模型，提高(有极性)电子元件的极性识别效果，也可以用来检测电子元件的漏件情况(电子元件的漏件是一种二分类识别情况)。

目前，现有技术中最常见的电子元件样本标注方法是通过全人工识别标注方法，即人工遍历所有待识别的电子元件样本，并对每个电子元件样本进行识别，进而标注标签。这种全人工的标注方法速度慢、效率低，及其耗时耗力。

发明内容

本发明实施例提出一种电子元件样本标注方法及装置，能够提高电子元件样本的标注效率。

本发明实施例提供一种电子元件样本标注方法，包括：

获取待标注的N个电子元件样本的图像；其中，N≥1；

将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值；

根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本。

进一步地，所述将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值，具体包括：

将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的第一匹配值；

计算最小的M个第一匹配值的平均值；其中，M≥1；

判断所述平均值是否小于预设的阈值；

若是，则将所述每个电子元件样本的第一匹配值作为其匹配度值；

若否，则将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值。

进一步地，所述将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的第一匹配值，具体包括：

采用模板匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第一匹配值。

进一步地，所述将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值，具体包括：

采用纹理信息匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第二匹配值；

计算所述每个电子元件样本的所述第一匹配值和所述第二匹配值的平均值，并将计算获得的平均值作为所述电子元件样本的匹配度值。

进一步地，所述根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本，具体包括：