[发明专利]一种投影校正方法和装置在审
申请号: | 201510981686.1 | 申请日: | 2015-12-22 |
公开(公告)号: | CN105554486A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 罗海风 | 申请(专利权)人: | TCL集团股份有限公司 |
主分类号: | H04N9/31 | 分类号: | H04N9/31 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 516006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 投影 校正 方法 装置 | ||
1.一种投影校正方法,其特征在于,所述方法包括:
通过摄像头拍摄投影仪在投影平面生成的投影图像,提取拍摄的所述投影图像的特征 点;
将所述投影图像的特征点与源图像的特征点进行匹配,所述源图像为投影仪播放的、 与所述投影图像对应的图像;
根据所述匹配结果计算源图像与所述投影图像对应的单应矩阵;以及
根据所述单应矩阵对投影内容进行透视变换,将变换后的投影内容投影。
2.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述提取拍摄的所述投影图像的特征点包括 通过SURF特征点检测方法、SIFT特征点检测方法、Harris特征点检测方法中的一种或者多 种提取。
3.根据权利要求2所述方法,其特征在于,通过Harris特征点检测方法提取拍摄的所述 投影图像的特征点具体包括:
根据窗口能量计算公式:
如果所述能量的变化值超过预定的阈值,则选取窗口中心的像素点为特征点;
其中,w(x,y)为窗函数,[I(x+u,y+v)-I(x,y)]2为图像灰度的梯度值,w(x,y)可为矩形 窗或高斯窗,E(u,v)为窗口的平均能量。
4.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述将所述投影图像的特征点与源图像的特 征点进行匹配步骤包括:
将所述投影图像的特征点集中的所有特征点分别与所述源图像的特征点集中的特征 点比较,查找是否有相同的特征点,如果有相同的特征点,则该特征点完成匹配。
5.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述根据所述匹配结果计算源图像与所述投 影图像对应的单应矩阵步骤具体为:
获取投影图像中匹配的特征点的第一坐标集,以及源图像中匹配的特征点的第二坐标 集;
根据所述第一坐标集和第二坐标集计算得到关联矩阵;
根据所述关联矩阵以及摄像头的内参数矩阵计算得到单应矩阵。
6.一种投影校正装置,其特征在于,所述装置包括:
特征点提取单元,用于通过摄像头拍摄投影仪在投影平面生成的投影图像,提取拍摄 的所述投影图像的特征点;
匹配单元,用于将所述投影图像的特征点与源图像的特征点进行匹配,所述源图像为 投影仪播放的、与所述投影图像对应的图像;
单应矩阵计算单元,用于根据所述匹配结果计算源图像与所述投影图像对应的单应矩 阵;以及
内容变换单元,用于根据所述单应矩阵对投影内容进行透视变换,将变换后的投影内 容投影。
7.根据权利要求6所述装置,其特征在于,所述提取拍摄的所述投影图像的特征点包括 通过SURF特征点检测方法、SIFT特征点检测方法、Harris特征点检测方法中的一种或者多 种提取。
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