[发明专利]MOS器件PK仪在审
| 申请号： | 201511009592.4 | 申请日： | 2015-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN105425083A | 公开（公告）日： | 2016-03-23 |
| 发明（设计）人： | 王常毅;李勇昌;邹锋;彭顺刚;朱金华 | 申请（专利权）人： | 桂林斯壮微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 | 代理人： | 陈跃琳 |
| 地址： | 541004 广西壮族自*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | mos 器件 pk | ||
1.MOS器件PK仪，其特征在于：主要由壳体(1)，固定在壳体(1)上的电源开关(3)、2个液晶显示屏(2)、2组测试档位选择键(4)和2组调节旋钮(5)，以及设置在壳体(1)内的2套测试平台(6)组成；其中电源开关(3)同时与2套测试平台(6)的电源端相连；每套测试平台(6)的输入端各连接1组测试档位选择键(4)和1组调节旋钮(5)的输出端；每套测试平台(6)的输出端各连接1个液晶显示屏(2)。
2.根据权利要求1所述的MOS器件PK仪，其特征在于：每套测试平台(6)均由电源模块、微控制器、电压测量模块、栅极电压产生模块、恒流源模块、电流测量模块和温度测量模块组成；其中电源模块的输出端连接微控制器和恒流源模块的电源端；恒流源模块的输入端连接微控制器，恒流源模块的输出端连接电流测量模块的输入端；电流测量模块输出端分为三路，一路连接微控制器，一路连接电压测量模块的输入端，一路连接接待测MOS器件的源极；栅极电压产生模块的输出端连接待测MOS器件的栅极，温度测量模块的输入端连接待测MOS器件的漏极。
3.根据权利要求2所述的MOS器件PK仪，其特征在于：测试档位选择键(4)和调节旋钮(5)的输出端与微控制器相连，液晶显示屏(2)的输入端与微控制器相连。
4.根据权利要求2所述的MOS器件PK仪，其特征在于：电源开关(3)与电源模块相连。
5.根据权利要求2所述的MOS器件PK仪，其特征在于：2套测试平台(6)共用1个电源模块、共用1个微控制器、共用1个电压测量模块、以及共用1个栅极电压产生模块。
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