[发明专利]MOS器件PK仪

说明书

技术领域

本发明涉及MOS器件测试领域，具体涉及一种MOS器件PK仪。

背景技术

在MOS器件新产品的研发和MOS新产品性能的演示过程中，我们经常要对不同品牌同类型的MOS器件产品进行对比，以判断各产品性能的优劣。通常在进行产品对比之前，先要对各样品的各项电参数数据进行对比。常会遇到的情况是有些样品是有数据资料的，但有些样品是没有数据资料的。如果样品没有数据资料，就必须回到实验室里或者工厂里对其进行实测得到样品数据。通过数据对比后才能分别进行特定应用环境条件下的试验，最后得到对比试验情况。这样我们就不能在现场及时了解对比情况，需要花较长的时间，运用到较多的试验/测试设备，并且容易在过程中出现人为因素的影响，导致对比情况的不准确。

发明内容

本发明所要解决的是现有MOS器件产品的对比方式需要花较长的时间，运用到较多的试验/测试设备的问题，提供一种MOS器件PK仪。

为解决上述问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

一种MOS器件PK仪，主要由壳体，固定在壳体上的电源开关、2个液晶显示屏、2组测试档位选择键和2组调节旋钮，以及设置在壳体内的2套测试平台组成；其中电源开关同时与2套测试平台的电源端相连；每套测试平台的输入端各连接1组测试档位选择键和1组调节旋钮的输出端；每套测试平台的输出端各连接1个液晶显示屏。

上述方案中，每套测试平台均由电源模块、微控制器、电压测量模块、栅极电压产生模块、恒流源模块、电流测量模块和温度测量模块组成；其中电源模块的输出端连接微控制器和恒流源模块的电源端；恒流源模块的输入端连接微控制器，恒流源模块的输出端连接电流测量模块的输入端；电流测量模块输出端分为三路，一路连接微控制器，一路连接电压测量模块的输入端，一路连接接待测MOS器件的源极；栅极电压产生模块的输出端连接待测MOS器件的栅极，温度测量模块的输入端连接待测MOS器件的漏极。

上述方案中，所述测试档位选择键和调节旋钮的输出端与微控制器相连，液晶显示屏的输入端与微控制器相连。

上述方案中，所述电源开关与电源模块相连。

上述方案中，2套测试平台共用1个电源模块、共用1个微控制器、共用1个电压测量模块、以及共用1个栅极电压产生模块。

与现有技术相比，本发明操作简单，对比情况直观，不需要购买昂贵的检测/试验设备，便可轻松了解样品性能对比情况；体积小重量轻，便于携带，有利于业务人员为客户直观演示产品性能，有利于研发人员现场快速了解样品性能对比情况。

附图说明

图1为一种MOS器件PK仪的立体结构图。

图2为测试平台的原理框图。

图中标号：1、壳体；2、液晶显示屏；3、电源开关；4、测试档位选择键；5、调节旋钮；6、测试平台。

具体实施方式

一种MOS器件PK仪，如图1所示，主要由壳体1，固定在壳体1上的电源开关3、2个液晶显示屏2、2组测试档位选择键4和2组调节旋钮5，以及设置在壳体1内的2套测试平台6组成；其中电源开关3同时与2套测试平台6的电源端相连；每套测试平台6的输入端各连接1组测试档位选择键4和1组调节旋钮5的输出端；每套测试平台6的输出端各连接1个液晶显示屏2。

每套测试平台6均由电源模块、微控制器、电压测量模块、栅极电压产生模块、恒流源模块、电流测量模块和温度测量模块组成；其中电源模块的输出端连接微控制器和恒流源模块的电源端；恒流源模块的输入端连接微控制器，恒流源模块的输出端连接电流测量模块的输入端；电流测量模块输出端分为三路，一路连接微控制器，一路连接电压测量模块的输入端，一路连接接待测MOS器件的源极；栅极电压产生模块的输出端连接待测MOS器件的栅极，温度测量模块的输入端连接待测MOS器件的漏极。所述测试档位选择键4和调节旋钮5的输出端与微控制器相连，液晶显示屏2的输入端与微控制器相连。电源开关3与电源模块相连。为了有效节约成本，在本发明优选实施例中，2套测试平台6共用1个电源模块、共用1个微控制器、共用1个电压测量模块、以及共用1个栅极电压产生模块。参见图2。

本发明通过聚焦主要性能参数及主要应用环境条件，将主要性能参数测试仪和主要应用环境条件测试电路整合在一起，使用应用环境条件可调的双测试平台6，在一台仪器上同时显示不同样品相同应用条件下或不同应用条件下的性能参数。这样对比既简单又直观，现场就可以得到对比情况，不需要购买昂贵的检测设备，也不需要花较长的时间往返与实验室/工厂。测试操作简便，又实用。