[发明专利]一种降低静电放电干扰的存储器单元有效

专利信息
申请号: 201511010622.3 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN106935581B 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 高菲;王富中 申请(专利权)人: 格科微电子(上海)有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 降低 静电 放电 干扰 存储器 单元
【权利要求书】:

1.一种降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述存储器单元包括:

第一反相器、第二反相器,所述第一反相器与第二反相器输入输出首尾相连;

位于存储器单元输入端与输出端之间的存储电容,所述存储电容适于在输入端电源电压降低至低于地时和/或输出端地升高至高于电源电压时,减少因静电放电干扰导致的电源和地的扰动毛刺时间,降低静电放电干扰;

所述存储电容的电容设置为释放电荷时间小于电源或地的毛刺时间。

2.根据权利要求1所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述存储电容为无源器件;所述存储电容为MIP电容或MIM电容。

3.根据权利要求2所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述MIM电容为相邻金属层之间的电容。

4.根据权利要求1所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述存储器单元还包括:于输出端窗口的电源和地之间增加第一电源释放通路,和/或于输出端窗口的电源和地之间增加第二电源释放通路。

5.根据权利要求4所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述第一电源释放通路、第二电源释放通路为栅极地NMOS技术,栅极耦合技术,动态栅极电路,栅驱动电路任意一种。

6.根据权利要求4所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述于输入端窗口和/或输出端窗口分别设置第二存储电容、第三存储电容。

7.根据权利要求1所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述存储器单元为:寄存器,触发器。

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