[发明专利]一种降低静电放电干扰的存储器单元有效
申请号: | 201511010622.3 | 申请日: | 2015-12-30 |
公开(公告)号: | CN106935581B | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 高菲;王富中 | 申请(专利权)人: | 格科微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 降低 静电 放电 干扰 存储器 单元 | ||
1.一种降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述存储器单元包括:
第一反相器、第二反相器,所述第一反相器与第二反相器输入输出首尾相连;
位于存储器单元输入端与输出端之间的存储电容,所述存储电容适于在输入端电源电压降低至低于地时和/或输出端地升高至高于电源电压时,减少因静电放电干扰导致的电源和地的扰动毛刺时间,降低静电放电干扰;
所述存储电容的电容设置为释放电荷时间小于电源或地的毛刺时间。
2.根据权利要求1所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述存储电容为无源器件;所述存储电容为MIP电容或MIM电容。
3.根据权利要求2所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述MIM电容为相邻金属层之间的电容。
4.根据权利要求1所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述存储器单元还包括:于输出端窗口的电源和地之间增加第一电源释放通路,和/或于输出端窗口的电源和地之间增加第二电源释放通路。
5.根据权利要求4所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述第一电源释放通路、第二电源释放通路为栅极地NMOS技术,栅极耦合技术,动态栅极电路,栅驱动电路任意一种。
6.根据权利要求4所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述于输入端窗口和/或输出端窗口分别设置第二存储电容、第三存储电容。
7.根据权利要求1所述的降低静电放电干扰的存储器单元,其特征在于,所述存储器单元为:寄存器,触发器。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的