[发明专利]一种TFT玻璃中氧化锆含量的荧光检测方法在审
| 申请号： | 201511015953.6 | 申请日： | 2015-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN105651745A | 公开（公告）日： | 2016-06-08 |
| 发明（设计）人： | 刘文渊;付冬伟;黄志军 | 申请（专利权）人： | 郑州旭飞光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 王浩然;周建秋 |
| 地址： | 450016 河南省郑*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 tft 玻璃 氧化锆 含量 荧光 检测 方法 | ||
1.一种TFT玻璃中氧化锆含量的荧光检测方法，该方法包括：
a、将玻璃样品进行磨细处理，得到玻璃粉末；
b、将步骤a中所得玻璃粉末与熔剂、脱模剂混合后进行熔样制片，得 到熔样玻璃片；其中，所述玻璃粉末、熔剂和脱模剂的质量之比为1：(0.5-2)： (0.01-0.1)，所述熔剂为四硼酸锂与偏硼酸锂的混合物，所述溶剂中四硼酸 锂与偏硼酸锂的质量比为(1-5):1；
c、将步骤b中所得熔样玻璃片进行荧光检测，得到玻璃样品氧化锆的 含量。
2.根据权利要求1的方法，其中，所述玻璃粉末、熔剂和脱模剂的质 量之比为1：(0.8-1.2)：(0.02-0.05)。
3.根据权利要求1的方法，其中，所述熔剂中四硼酸锂与偏硼酸锂的 质量比为(1-3):1。
4.根据权利要求1的方法，其中，所述磨细处理在振动研磨机中进行， 所述振动研磨机所用的模具为碳化钨材质。
5.根据权利要求1的方法，其中，所述玻璃粉末的粒径小于45微米。
6.根据权利要求1的方法，其中，所述玻璃粉末的粒径为1-40微米。
7.根据权利要求1的方法，其中，所述脱模剂为碘化铵和/或溴化铵。
8.根据权利要求1的方法，其中，所述熔样制片的条件为：熔样温度 为1100-1250℃，熔样的时间为15-20分钟。
9.根据权利要求1的方法，其中，采用自动熔样机进行所述熔样制片。
10.根据权利要求1的方法，其中，所述熔样制片在铂黄坩埚中进行。
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