[发明专利]一种定量检测高分子材料制品残余应力的方法在审

专利信息
申请号: 201511018880.6 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN105651440A 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 黄池光;许晶玮;汪炉林;胡付宗;叶晓光;杨明;张松 申请(专利权)人: 上海金发科技发展有限公司
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00
代理公司: 上海湾谷知识产权代理事务所(普通合伙) 31289 代理人: 倪继祖
地址: 201714 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 定量 检测 高分子材料 制品 残余 应力 方法
【权利要求书】:

1.一种定量检测高分子材料制品残余应力的方法,其特征在于,包括以下 步骤:

步骤1:将被测制品表面的测试位置打磨平整光滑,用脱脂棉蘸蒸馏水将 该测试位置擦拭干净;

步骤2:将应变片用胶水粘附于步骤2中的测试位置,并将所述应变片与 所述电阻应变仪用焊锡和烙铁连线;

步骤3:使用钻孔仪调整打孔的对准精度,使钻孔仪的钻头垂直于测试表 面;

步骤4:将电阻应变仪调零,并预先调节钻孔仪的打孔深度,待打孔仪到 达预定深入后,读取电阻应变仪上的示数第一应变ε1,第二应变ε2和第三应变 ε3

步骤5:将步骤5中读取的第一应变ε1,第二应变ε2和第三应变ε3代入以 下公式,计算第一主应力和第二主应力的大小和方向:

σ1=ϵ1+ϵ24A+(ϵ1-ϵ2)2+(2ϵ2-ϵ1-ϵ3)24B]]>

σ2=ϵ1+ϵ24A-(ϵ1-ϵ2)2+(2ϵ2-ϵ1-ϵ3)24B]]>

tan2θ1=ϵ1+ϵ3-2ϵ2ϵ1-ϵ3]]>

θ2=90°±θ1

式中:σ1-第一主应力的大小,θ1-第一主应力的方向;

σ2-第二主应力的大小,θ2-第二主应力的方向;

A-第一应力释放修正系数,B-第二应力释放修正系数。

上述A和B的计算公式如下:

A=-1+μ2E×1R2]]>

B=2ER2-3(1+μ)2ER4]]>

式中:E为被测制品的材料模量,μ为被测制品的材料泊松比,R为应变 片参数。

2.如权利要求1所述的一种定量检测高分子材料制品残余应力的方法, 其特征在于,所述应变片的阻值为120±0.2%,灵敏系数为2.20±1%。

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