[发明专利]一种用于显微镜的成像方法及系统在审
申请号: | 201511019416.9 | 申请日: | 2015-12-29 |
公开(公告)号: | CN105425377A | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
发明(设计)人: | 刘子骥;何璇;杨建忠;郑杰;郑兴 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G02B21/06 | 分类号: | G02B21/06;G02B21/14;G02B21/36 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 显微镜 成像 方法 系统 | ||
1.一种用于显微镜的成像方法,其特征在于,包括以下步骤:
a.采用光源设备照射样品,使样品透射光线携带样品信息;所述光源设备用于产生可控的多种照明方式,不同照明方式下,样品透射光线携带信息不同;
b.显微镜接收样品透射光线,所得观测结果分别传输到目镜和照相设备;
c.照相设备采集显微镜观测结果获得采集图像,并将获得的采集图像其发送到处理设备;
d.处理设备根据照相设备采集的图像获取最终成像图片。
2.根据权利要求1所述的一种用于显微镜的成像方法,其特征在于,所述光源设备为发光二极管阵列。
3.根据权利要求2所述的一种用于显微镜的成像方法,其特征在于,所述发光二极管阵列包括明场区域和暗场区域,分别产生明场照明方式和暗场照明方式;则,
步骤a中,样品透射光线为明场光线或暗场光线;
步骤b中,显微镜接收样品透射的明场光线,得到明场观测结果传输到照相设备,或者,显微镜接收样品透射的暗场光线,处理后得到暗暗场观测结果传输到照相设备;
步骤c中,照相设备采集显微镜明场观测结果获得明场采集图像,或者,照相设备采集显微镜暗场观测结果获得暗场采集图像;将获得的明场采集图像或暗场采集图像发送到处理设备;
步骤d中,处理设备根据明场采集图像获得明场成像图片,或者,处理设备根据暗场采集图像获得暗场成像图片。
4.根据权利要求3所述的一种用于显微镜的成像方法,其特征在于,所述发光二极管阵列的明场区域还包括第一明场区域和第二明场区域;则,
步骤a中所述明场光线还包括第一明场光线和第二明场光线;
步骤b中所述明场观测结果)还包括第一明场观测结果和第二明场观测结果;
步骤c中所述明场采集图像还包括第一明场采集图像和第二明场采集图像;
步骤d中处理设备获取明场成像图片的方法为:
假设第一明场采集图像为I1、第二明场采集图像为I2,则明场成像图片IBright的获得方法为:IBright=I1+I2。
5.根据权利要求3所述的一种用于显微镜的成像方法,其特征在于,步骤d中处理设备还可以获取样品不同方向上的相衬成像图片,具体方法为:
设样品某一方向上的相衬成像图片为IPh,则IPh的获得方法为:
6.一种用于显微镜的成像系统,包括显微镜,其特征在于,还包括光源设备、照相设备和处理设备;所述光源设备用于照射样品以使样品产生带有样品信息的透射光线;所述显微镜用于接收样品透射光线,获得观测结果;所述照相设备用于采集显微镜观测结果获得采集图像;所述处理设备用于根据采集图像获取成像图片。
7.根据权利要求6所述的一种用于显微镜的成像系统,其特征在于,所述光源设备为发光二极管阵列;所述发光二极管阵列包括明场区域和暗场区域;则,
光源设备照射样品后,样品透射光祥为明场光线或暗场光线;
显微镜接收样品透射明场光线,得到明场观测结果传输到照相设备,或者,显微镜接收样品透射暗场光线,得到暗场观测结果传输到照相设备;
照相设备采集显微镜明场观测结果获得明场采集图像,或者,照相设备采集显微镜发出暗场观测结果获得暗场采集图像;将获得的明场采集图像或暗场采集图像发送到处理设备;
处理设备根据明场采集图像获得明场成像图片,或者,处理设备根据暗场采集图像获得暗场成像图片。
8.根据权利要求7所述的一种用于显微镜的成像系统,其特征在于,所述明场区域包括第一明场区域和第二明场区域;则,
所述明场光线还包括第一明场光线和第二明场光线;
所述明场观测结果还包括第一明场观测结果和第二明场观测结果;
所述明场采集图像还包括第一明场采集图像和第二明场采集图像;
处理设备获取明场成像图片的方法为:
假设第一明场采集图像为I1、第二明场采集图像为I2,则明场成像图片IBright的获得方法为:IBright=I1+I2。
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