[发明专利]瓷砖铺贴方案生成方法和系统在审

专利信息
申请号: 201511029202.X 申请日: 2015-12-31
公开(公告)号: CN105488304A 公开(公告)日: 2016-04-13
发明(设计)人: 莫馥姣 申请(专利权)人: 中民筑友有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 林青中
地址: 410201 湖南省长沙市开福区新*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 瓷砖 方案 生成 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及虚拟设计技术领域,特别是涉及一种瓷砖铺贴方案生成方法 和系统。

背景技术

现有的瓷砖铺贴设计主要由设计师人工设计,设计时间较长。若有设计 变更或现场实测实量结果与设计图纸有差异,需要更改瓷砖设计方案,设计 师的工作量将大大增加。其次,瓷砖铺贴方案的设计是否合理完全依靠设计 师的经验,容易造成瓷砖的利用率低的问题。

发明内容

基于此,有必要提供一种降低设计师工作量的瓷砖铺贴方案生成方法和 系统。

一种瓷砖铺贴方案生成方法,包括:

获取待设计房间的图形数据;

根据待设计房间的图形数据确定铺贴区域,并获取铺贴区域的尺寸参数 以及待铺贴瓷砖的尺寸参数;

根据待设计房间的图形数据确定基准点坐标;

根据基准点坐标、铺贴区域的尺寸参数及待铺贴瓷砖的尺寸参数获得待 设计房间的铺贴方案,获取铺贴方案中沿铺贴区域的第一方向的整砖数量、 非整砖数量及沿第一方向的非整砖尺寸、与第一方向垂直的第二方向的整砖 数量、非整砖数量及沿第二方向的非整砖尺寸;

计算铺贴方案的瓷砖利用率;

输出铺贴方案,铺贴方案包括瓷砖利用率。

在其中一种实施方式中,获取待设计房间的图形数据的步骤包括:获取 待设计房间的图形数据,根据图形数据确定待设计房间的铺贴原则及待设计 房间的参考Z值;参考Z值为允许最小非整砖面积与整砖面积之比;

根据待设计房间的图形数据确定基准点坐标的步骤包括:

以待设计房间的主视点所在的边建立坐标系;

根据待铺贴瓷砖的瓷宽对铺贴区域的第一方向的尺寸进行整除,得到第 一方向非整砖实际宽度;

将第一方向非整砖实际宽度与参考Z值进行比较,并根据比较结果确定 第一方向的初步整砖数量、初步非整砖数量和初步非整砖宽度;

根据主视点与第一方向的尺寸的相对位置、第一方向的初步整砖数量、 第一方向的初步整砖数量、第一方向的初步非整砖宽度和瓷宽确定基准点的 横坐标;

根据待铺贴瓷砖的瓷长对铺贴区域的第二方向的尺寸进行整除,得到第 二方向非整砖实际长度;

将第二方向非整砖实际长度与参考Z值进行比较,并根据比较结果确定 第二方向的初步整砖数量、初步非整砖数量和非整砖长度;

根据铺贴原则与第二方向的初步整砖数量、初步非整砖数量、初步非整 砖长度和瓷长确定基准点的纵坐标,或根据待铺贴瓷砖的瓷长确定基准点的 纵坐标。

在其中一种实施方式中,计算铺贴方案的瓷砖利用率的步骤包括:采用 贪心算法,获取铺贴方案的非整砖的切割方案以确定铺贴方案的瓷砖利用率。

在其中一种实施方式中,采用贪心算法,获取铺贴方案的非整砖的切割 方案以确定铺贴方案的瓷砖利用率的步骤包括:

整砖填充的步骤,整砖填充的步骤包括:

以整砖为铺贴区域,建立坐标系,根据整砖的长和宽设置坐标系的横轴x 和纵轴y方向的边界得到填充区域;

从图形库中选择面积最大的非整砖图形放入填充区域,并使非整砖图形 的顶点与辐射点对准,

获取待填充区域内的所有辐射点以及与辐射点对应的辐射面,计算辐射 面的面积,并获取面积最大的辐射面以及与辐射面对应的辐射点;

从图形库中选择能够填充最大辐射面的非整砖图形放入最大辐射面,并 使最大辐射面的辐射点与非整砖图形对应的顶点对准,直至图形库中最小的 非整砖图形不能填充当前的最大辐射面;

重复整砖填充的步骤,从图形库中选择非整砖图形填充下一整砖直至铺 贴方案的非整砖填充完毕;

根据所有整砖被填充面积计算铺贴方案的利用率。

在其中一种实施方式中,获取待设计房间的图形数据的步骤包括:获取 待设计房间的图形数据,根据图形数据确定待设计房间的铺贴原则;

根据待设计房间的图形数据确定基准点坐标的步骤包括:获取用户根据 铺贴原则输入的基准点坐标。

一种瓷砖铺贴方案生成系统,包括:

获取模块,用于获取待设计房间的图形数据;

铺贴区域确定模块,用于根据待设计房间的图形数据确定铺贴区域,并 获取铺贴区域的尺寸参数以及待铺贴瓷砖的尺寸参数;

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