[发明专利]一种与非型闪存中坏列的处理方法、装置及与非型闪存

权利要求书

1.一种与非型闪存中坏列的处理方法，其特征在于，包括：

扫描所述与非型闪存的存储区块，并扫描出所述存储区块中的坏列；

通过所述存储区块中的冗余列替换所述坏列并将所述坏列的地址记录在与该冗余列对应的标记锁存器中，记录所述坏列个数；

扫描写入数据后的所述存储区块并得出所述存储区块的错误信息个数，根据所述错误信息个数和所述坏列个数得出所述存储区块的错误数据个数；

其中，所述标记锁存器与所述冗余列一一对应设置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过所述存储区块中的冗余列替换所述坏列，并将所述坏列的地址记录在与该冗余列对应的标记锁存器中，记录所述坏列个数，包括：

调用一个冗余列并判断所述冗余列是否是正常列；

若所述冗余列为坏列，则返回并调用下一个冗余列；

若所述冗余列为正常列，则通过该冗余列替换所述坏列，并将所述坏列的地址记录在与该冗余列对应的标记锁存器中；

当所述存储区块中的全部坏列替换完成后，统计所述坏列的个数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，扫描写入数据后的所述存储区块并得出所述存储区块的错误信息个数，根据所述错误信息个数和所述坏列个数得出所述存储区块的错误数据个数，包括：

上电结束后，向所述存储区块中写入数据；

对所述存储区块进行错误数据扫描，以得出所述存储区块中的错误信息个数；

计算所述错误信息个数与所述坏列个数的差值，以得到所述错误数据个数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述计算所述错误信息个数与所述坏列个数的差值以得到所述错误数据个数之后，还包括：

判断所述错误数据个数是否超出预设个数阈值；

若未超出，则写入数据操作完成；若超出，则返回重新将数据写入所述存储区块中。

5.一种与非型闪存中坏列的处理装置，其特征在于，包括：

坏列扫描模块，用于扫描所述与非型闪存的存储区块，并扫描出所述存储区块中的坏列；

坏列个数统计模块，用于通过所述存储区块中的冗余列替换所述坏列并将所述坏列的地址记录在与该冗余列对应的标记锁存器中，记录所述坏列个数；

错误数据个数获取模块，用于扫描写入数据后的所述存储区块并得出所述存储区块的错误信息个数，根据所述错误信息个数和所述坏列个数得出所述存储区块的错误数据个数；

其中，所述标记锁存器与所述冗余列一一对应设置。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述坏列个数统计模块包括：

冗余列调用单元，用于调用一个冗余列并判断所述冗余列是否是正常列，若所述冗余列为坏列，则返回并调用下一个冗余列；若所述冗余列为正常列，则通过该冗余列替换所述坏列，并将所述坏列的地址记录在与该冗余列对应的标记锁存器中；

坏列个数统计单元，用于在当所述存储区块中的全部坏列替换完成后，统计所述坏列的个数。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述错误数据个数获取模块包括：

存储数据写入单元，用于上电结束后，向所述存储区块中写入数据；

错误信息统计单元，用于对所述存储区块进行错误数据扫描，以得出所述存储区块中的错误信息个数；

错误数据个数获取单元，用于计算所述错误信息个数与所述坏列个数的差值，以得到所述错误数据个数。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

错误数据判断模块，用于在所述计算所述错误信息个数与所述坏列个数的差值，以得到所述错误数据个数之后，判断所述错误数据个数是否超出预设个数阈值，若未超出，则写入数据操作完成；若超出，则返回重新将数据写入所述存储区块中。

9.一种与非型闪存，其特征在于，包括：至少一个存储区块，与所述存储区块中的冗余列一一对应设置的标记锁存器，以及如权利要求5-8任一项所述的坏列处理装置。