[发明专利]玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法及测量设备

说明书

技术领域

本发明涉及玻璃制造技术领域，具体地，涉及一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度 的测量方法及测量设备。

背景技术

玻璃基板成型时，采用在热态下将两片玻璃液自粘在一起，形成一片玻璃，在粘合 面上对同一条光线的折射角度会有不同，从玻璃基板断面上看粘合面(尤其在强光条件 下)，会出现一条隐约可见的线条，该线条就叫融合线。

玻璃融合线会反映溢流法玻璃基板产线中溢流砖的水平情况，会影响到玻璃的品 质，因此融合线是玻璃基板制造过程中的重要数据，需要进行精确测量，具体是测量融合线 两侧玻璃的厚度。

因此，需要一种能够精确测量融合线两侧玻璃厚度的测量方法和测量设备。

发明内容

本发明的目的是提供一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法及测量设备， 能够精确测量玻璃基板融合线两侧玻璃厚度。

为了实现上述目的，本发明提供一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法， 所述方法包括：

用三坐标测量仪的摄像装置获取玻璃基板断面的图像；

将所述图像数据传输至三坐标测量软件，其中，在获取所述图像时，所述玻璃基板 断面的放置需使得所获取的所述玻璃基板断面的融合线的图像与所述三坐标测量软件中 的水平功能线或垂直功能线平行；

通过所述三坐标测量软件获取所述玻璃基板断面的融合线与所述玻璃基板断面 的两侧边缘线之间的距离。

优选地，在获取所述图像时，所述玻璃基板竖直放置，并使得待测的所述玻璃基板 的断面朝上。

优选地，所述玻璃基板的放置具体包括：

将待测玻璃基板竖直固定于样品台上，并将所述样品台放置于载物台上；在获取 所述图像时，微调所述样品台使得所述融合线的图像与所述三坐标测量软件中的水平功能 线或垂直功能线平行。

优选地，所述样品台上和所述载物台上分别设置有标记，在将所述样品台放置于 所述载物台上时，首先使得所述样品台的标记与所述载物台的标记对准。

本发明还提供一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量设备，所述测量设备包括 三坐标测量仪，所述三坐标测量仪包括能够获取玻璃基板断面图像的摄像装置以及能够根 据所述摄像装置获取的所述玻璃基板的断面图像测量所述玻璃基板断面的融合线与所述 玻璃基板的两侧边缘线之间的距离的三坐标测量软件。

优选地，所述测量设备还包括能够使得所述玻璃基板竖直固定以通过所述摄像装 置进行摄像的样品台。

优选地，所述样品台包括底座及固定于所述底座上的样品架，所述样品架具有用 于竖直固定所述玻璃基板的固定平面。

优选地，所述样品架的所述固定平面上设置有能够粘结所述玻璃基板的粘结层。

优选地，所述底座为能够水平放置的第一板体，所述样品架为垂直于所述第一板 体的第二板体。

优选地，所述测量设备还包括承载所述样品台的载物台，所述样品台和所述载物 台上分别设置有能够对准的标记。

通过本发明提供的玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法及测量设备能够测 量玻璃基板融合线两侧玻璃的厚度，且测量快速，测量精度高。

本发明的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具 体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法。

图2为样品台的结构示意图。

附图标记说明

1-底座；2-样品架；3-粘结层。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描 述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。

本发明提供一种玻璃基板融合线两侧玻璃厚度的测量方法，如图1所示，该方法包 括如下步骤：

用三坐标测量仪的摄像装置获取玻璃基板断面的图像；

将所述图像数据传输至三坐标测量软件，其中，在获取所述图像时，玻璃基板断面 的放置需使得所获取的所述玻璃基板断面的融合线的图像与所述三坐标测量软件中的水 平功能线或垂直功能线平行；