[实用新型]一种芯片后测试设备有效
申请号: | 201520029547.4 | 申请日: | 2015-01-16 |
公开(公告)号: | CN204374096U | 公开(公告)日: | 2015-06-03 |
发明(设计)人: | 倪黄忠 | 申请(专利权)人: | 深圳市时创意电子有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 侯蔚寰 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安沙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 设备 | ||
1.一种芯片后测试设备,其特征在于:包括工作台(2)、摄像机(4)以及PC机(6),所述工作台(2)上设有传感器(1)和伺服电机(8),所述传感器(1)与所述伺服电机(8)分别与驱动器(7)连接,所述摄像机(4)通过控制电路(9)与所述驱动器(7)连接,所述驱动器(7)连接到所述PC机(6)上,所述摄像机(4)上还设有图像采集卡(5)与所述PC机(6)连接,所述摄像机(4)的旁边设有光源(3)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片后测试设备,其特征在于:所述摄像机(4)采用CCD摄像头。
3.根据权利要求1所述的一种芯片后测试设备,其特征在于:所述驱动器(7)里面设有MCU,所述传感器(1)、所述伺服电机(8)以及所述摄像机(4)分别与所述驱动器(7)里面的MCU连接。
4.根据权利要求1所述的一种芯片后测试设备,其特征在于:所述传感器(1)为光纤传感器(1),数量为两个,分别安装在所述伺服电机(8)轨道的起止点。
5.根据权利要求1所述的一种芯片后测试设备,其特征在于:所述驱动器(7)还包括有光耦隔离器,所述光耦隔离器分别与所述传感器(1)和所述伺服电机(8)连接。
6.根据权利要求1所述的一种芯片后测试设备,其特征在于:所述图像采集卡(5)的型号为SoliosXCL-SU74。
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