[实用新型]一种用于无过零检测IC的测试装置有效

专利信息
申请号: 201520239062.8 申请日: 2015-04-20
公开(公告)号: CN204575806U 公开(公告)日: 2015-08-19
发明(设计)人: 薛苏;宋昌林;陈方春 申请(专利权)人: 四川汇源光通信有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 代理人: 袁英
地址: 611731 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 无过 检测 ic 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种用于无过零检测IC的测试装置,其特征在于:它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路,所述待测试集成电路为无过零检测的半成品电路,待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相应引脚提供所需直流电压的待测试芯片;

所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的输入引脚连接,测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的输出引脚连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于无过零检测IC的测试装置,其特征在于:所述的测试结果显示单元包括示波器和万用表中的一种或多种的组合。

3.根据权利要求1所述的一种用于无过零检测IC的测试装置,其特征在于:所述的直流电源为输出电压能够根据具体需求而调整的直流电源。

4.根据权利要求1所述的一种用于无过零检测IC的测试装置,其特征在于:所述的待测试集成电路还包括一个或多个与待测试芯片的输入引脚和输出引脚相对应连接的外围电路,直流电源的电源输出端还与外围电路的电源输入端连接,测试结果显示单元的输入端与外围电路的输出端连接。

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