[实用新型]一种用于无过零检测IC的测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及开关电源检测领域，特别是涉及一种用于无过零检测IC的测试装置。

背景技术

电源管理芯片在做成成品电源后，如果有焊接不良或者元器件故障，在通入220VAC后会炸机造成返修难度增加，PCB损坏，配电箱跳匝，更严重者操作员会被炸裂的元器件残片所损伤。因此在通电之前对电源管理芯片做一个简单的模拟测试，检查相关波形是否正常非常必要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种用于无过零检测IC的测试装置，通过直流电源和示波器/万能表，简单有效地检测出待测试集成电路是否正常，能够有效的减少半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：一种用于无过零检测IC的测试装置，它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路，所述待测试集成电路为无过零检测的半成品电路，待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的待测试芯片。

所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的相关输入引脚连接，测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的相关输出引脚连接。

所述的测试结果显示单元包括示波器和万用表中的一种或多种的组合。

所述的直流电源为输出电压能够根据具体需求而调整的直流电源。

所述的待测试集成电路还包括一个或多个与待测试芯片的输入引脚和输出引脚相对应连接的外围电路，直流电源的电源输出端还与外围电路的电源输入端连接，测试结果显示单元的输入端与外围电路的输出端连接。

本实用新型的有益效果是：本实用新型通过直流电源和示波器/万能表，简单有效地检测出待测试集成电路是否正常，能够有效的减小半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构框图；

图2为本实用新型待测试集成电路的电路图。

具体实施方式

下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案，但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。

如图1所示，一种用于无过零检测IC的测试装置，它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路，所述待测试集成电路为无过零检测半成品电路，待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的待测试芯片。

所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的相关输入引脚连接，测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的相关输出引脚连接。

所述的测试结果显示单元包括示波器和万用表中的一种或多种的组合。

所述的直流电源的输出电压能够根据具体需求而调整。

所述的待测试集成电路还包括一个或多个与待测试芯片的输入引脚和输出引脚相对应连接的外围电路，直流电源的电源输出端还与外围电路的电源输入端连接，测试结果显示单元的输入端与外围电路的输出端连接。

所述的待测试集成电路为能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的开关电源IC，一般为半成品集成电路板，可直接通过直流电源和示波器或万用表，检测待检测芯片的输出参考电压或脉宽调制信号是否正常。所述的待测试芯片为电源管理芯片，例如TI公司的UC3845，ST公司L6599以及ON公司的NCP1654等等。

在拿到一张加工好的电路板，通电之前需要检测加工是否良好，必须对该电路板的芯片功能进行检测。

本实用新型根据待测试集成电路的产品规格书，首先需要了解该待测试集成电路中，待测试芯片各个引脚的功能，初步判断区分其输入引脚和输出引脚，再通过直流电源给待测试集成电路的输入引脚输入其所需要的电压，再用示波器或者万用表检测该待测试集成电路的输出电压或频率是否正常。

本实用新型通过直流电源对待测试集成电路进行检测，能够有效的减小半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。

本实用新型还可以验证待测试集成电路的周边元器件的性能、焊接等特性是否良好。参照产品规格文档，给目标器件的对应引脚施加合理电压，观察输出点是否正常，如果有器件虚焊，或者损坏，那么输出针脚的输出信号产生的电压或频率的异常，就会在电压表或示波器上反应出来，从而可以检查出该半成品是否合格。