[实用新型]老化测试转换板

权利要求书

1.一种老化测试转换板，其特征在于，所述老化测试转换板包括：

芯片插接区域，具有多个芯片插接孔，适于插接待检测芯片；

老化板插接区域，具有多个老化板插接点，适于插接老化板；

电源连接区域，具有多个电源连接点，适于连接电源或接地；

电源/芯片转接区域，具有多个转接点，适于将电源信号转接于待检测芯片；

拨码开关，适于通过开关控制所述待检测芯片与老化板的灵活连接；

其中，所述芯片插接区域与所述老化板插接区域通过所述拨码开关电性连接；所述芯片插接区域、所述老化板插接区域、所述电源连接区域及所述电源/芯片转接区域电性连接。

2.根据权利要求1所述的老化测试转换板，其特征在于：所述芯片插接区域位于所述老化测试转换板的中部；所述芯片插接孔沿所述老化测试转换板的长度方向呈多行两列排布。

3.根据权利要求2所述的老化测试转换板，其特征在于：所述芯片插接区域还包括多个焊垫，所述焊垫沿所述老化测试转换板的长度方向呈多行两列排布，每一列中相邻两个所述焊垫相互连接形成焊垫对，且所述焊垫与所述芯片插接孔一一对应地分布于所述芯片插接孔的外侧。

4.根据权利要求3所述的老化测试转换板，其特征在于：所述拨码开关位于所述焊垫与所述芯片插接孔之间，所述拨码开关两侧均设有管脚，所述拨码开关一侧的管脚与所述焊垫相连接，另一侧的管脚与所述芯片插接孔相连接。

5.根据权利要求4所述的老化测试转换板，其特征在于：所述老化板插接区域为两个，分别位于所述老化测试转换板的两侧；每个所述老化板插接区域内所述老化板插接点沿所述老化测试转换板的长度方向呈多行一列排布；且所述老化板插接点分别与位于所述芯片插接孔同一侧的所述焊垫对通过金属线一一对应连接。

6.根据权利要求2至5中任一项所述的老化测试转换板，其特征在于：所述电源/芯片转接区域为两个，分别位于所述芯片插接区域与所述老化板插接区域之间；每个所述电源/芯片转接区域内所述转接点沿所述老化测试转换板的长度方向呈多行三列排布；且位于所述芯片插接区域一侧的所述电源/芯片转接区域内的中间一列所述转接点与位于奇数行的所述芯片插接孔通过金属线一一对应连接；位于所述芯片插接区域另一侧的所述电源/芯片转接区域内的中间一列所述转接点与位于偶数行的所述芯片插接孔通过金属线一一对应连接。

7.根据权利要求6所述的老化测试转换板，其特征在于：所述电源连接区域为四个，分别两两分布于所述老化测试转换板的两端，且位于同一端的两个所述电源连接区域分别位于所述芯片插接区域的两侧；每个所述电源连接区域内包括三个电源连接点，沿所述老化测试转换板宽度方向呈一行排布；其中，两个所述电源连接区域经由各自一个所述电源连接点与所述老化板插接区域通过金属线相连接，另两个所述电源连接区域经由各自一个所述电源连接点与外接电源相连接，位于同一端的两个所述电源连接区域经由各自一个所述电源连接点相连接后共同与所述老化板插接区域通过金属线相连接；每个所述电源连接区域经由各自一个所述电源连接点与位于所述芯片插接区域同侧的所述电源/芯片转接区域内靠近所述芯片插接区域的一列转接点通过金属线相连接。

8.根据权利要求7所述的老化测试转换板，其特征在于：每个所述电源连接区域分别与同其相邻近的半列所述转接点相连接。

9.根据权利要求8所述的老化测试转换板，其特征在于：连接所述芯片插接区域、所述老化板插接区域、所述电源连接区域、所述电源/芯片转接区域及所述拨码开关的金属线呈多层分布；所述老化测试转化板还包括过渡信号区域，所述过渡信号区域适于连接相邻两层金属线。

10.根据权利要求9所述的老化测试转换板，其特征在于：所述老化测试转换板还包括发光二极管，适于监测所述老化测试转换板与老化板连接状况；所述发光二极管与至少任一层所述金属线电性连接。

11.根据权利要求1所述的老化测试转换板，其特征在于：所述芯片插接孔为通孔，所述老化板插接点及转接点均为插针。