[实用新型]偏光调制分析测量仪有效
| 申请号： | 201520297160.7 | 申请日： | 2015-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN205192618U | 公开（公告）日： | 2016-04-27 |
| 发明（设计）人： | 王灵浩 | 申请（专利权）人： | 王灵浩 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 350200 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 偏光 调制 分析 测量仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种偏光调制分析测量仪，其特征在于：所述偏光调制分析测量仪主要包括光源(1)、准直透镜(2)、波片(3)、偏振棱镜(4)、聚光透镜(5)和探测器(6)，所述光源(1)、准直透镜(2)、波片(3)、偏振棱镜(4)、聚光透镜(5)和探测器(6)的中心处于一线，所述光源(1)为单色光源，所述偏振棱镜(4)由多个偏振片构成，所述波片(3)和偏振棱镜(4)分别设置两个可转动平台上，光源(1)发出的待检测的单色光波经准直透镜(2)变成平行光后，相继通过波片(3)和偏振棱镜(4)，再由聚光透镜(5)把待检测的光波聚在探测器(6)上。
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