[实用新型]偏光调制分析测量仪有效
申请号: | 201520297160.7 | 申请日: | 2015-05-04 |
公开(公告)号: | CN205192618U | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
发明(设计)人: | 王灵浩 | 申请(专利权)人: | 王灵浩 |
主分类号: | G01J4/00 | 分类号: | G01J4/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 350200 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 偏光 调制 分析 测量仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种对偏振光进行检测的仪器,尤其涉及一种偏光调制分析测量仪,属于偏振检测领域。
背景技术
在光学遥感领域,偏振检测作为强度检测的一个补充,可以把信息量从三维扩充到七维,有助于提高目标探测和地物识别的准确度。气溶胶偏振探测仪作为一种偏振遥感工具,具有探测范围大,空间分辨率高和测量精度高等特点,已广泛应用于气象监测、环境监测和大气辐射特性等领域的研究。偏振检测作为强度检测的一个有益补充,可以把信息量从三维(光强、光谱和空间)扩充到七维(光强、光谱、空间、偏振度、偏振方位角、偏振椭率和旋转方向),有助于提高目标探测和地物识别的准确度。近些年来,国内外研究人员开展了大量的地物偏振特性测量研究及偏振成像测量系统的设计,极大的推动了偏振检测技术的发展。但是目前对于偏振检测方面仍旧处于不成熟的阶段。
实用新型内容
为了克服现有技术的不足,解决好现有技术的问题,弥补现有目前市场上现有产品的不足。
本实用新型提供了一种偏光调制分析测量仪,主要包括光源、准直透镜、波片、偏振棱镜、聚光透镜和探测器,所述光源、准直透镜、波片、偏振棱镜、聚光透镜和探测器的中心处于一线,所述光源为单色光源,所述偏振棱镜由多个偏振片构成,所述波片和偏振棱镜分别设置两个可转动平台上,光源发出的待检测的单色光波经准直透镜变成平行光后,相继通过波片和偏振棱镜,再由聚光透镜把待检测的光波聚在探测器上。
本实用新型提供的偏光调制分析测量仪使入射光通过一系列调制光学元件,通过机械转动或连续的周期性调制改变检测光学元件的状态从而测出一组出射光的光强值,并对之做傅立叶分析,进而得到四个斯托克斯参量。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
附图标记:1-光源;2-准直透镜;3-波片;4-偏振棱镜;5-聚光透镜;6-探测器。
具体实施方式
为了便于本领域普通技术人员理解和实施本实用新型,下面结合附图及具体实施方式对本实用新型作进一步的详细描述。
本实用新型提供的偏光调制分析测量仪主要包括光源1、准直透镜2、波片3、偏振棱镜4、聚光透镜5和探测器6,光源1、准直透镜2、波片3、偏振棱镜4、聚光透镜5和探测器6的中心处于一线。
其中,光源1为单色光源。偏振棱镜4由多个偏振片构成。波片3和偏振棱镜4分别设置两个可转动平台上。
光源1发出的待检测的单色光波经准直透镜2变成平行光后,相继通过波片3和偏振棱镜4,再由聚光透镜5把待检测的光波聚在探测器6上。
测量时以入射光为轴转动波片W或偏振片P,则透射光强I和斯托克斯参量的关系为
式中,α为P的透光轴和x轴之间的夹角;β为波片W的快轴和x轴的夹角。因为光电探测器的光敏面一般都有某种程度的偏振选择性,因此实际测量时以旋转波片W,固定P为佳,此时透射光强的表达式为
式中,β=ωt,ω为波片W旋转的角速度。设波片旋转一周有N个调制点,则波片的旋转步进角为Δβ=βi+1-βi,i=1,2,...,N。
以上所述之具体实施方式为本实用新型的较佳实施方式,并非以此限定本实用新型的具体实施范围,本实用新型的范围包括并不限于本具体实施方式,凡依照本实用新型之形状、结构所作的等效变化均在本实用新型的保护范围内。
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