[实用新型]一种半导体硅片清洗釜有效
申请号: | 201520322497.9 | 申请日: | 2015-05-19 |
公开(公告)号: | CN204577408U | 公开(公告)日: | 2015-08-19 |
发明(设计)人: | 靳光亚;王佳鹏;王娅;朱松阳;吕媛;程友良 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学(保定) |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;B08B3/12;B08B3/10;B08B7/00;B08B11/02;B08B13/00 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 071000 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 硅片 清洗 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种半导体硅片清洗釜。
背景技术
目前所使用的半导体硅片清洗装置清洗过程中需要使用大量纯水,并添加有机溶剂,会造成环境污染、人身危害和水资源浪费等严重问题。
中国实用新型专利(公开号:CN2489887Y)公开了一种连续式超声波清洗机,其存在清洗盲区,不能有效清洗微孔和狭缝,并且使用清洗剂还会对环境造成污染;中国发明专利(公开号:CN101740342A)公开了一种绿色二氧化碳超临界流体半导体清洗设备,主要是对半导体硅片清洗,但并未增加旋转、振荡等辅助清洗手段,最终实际清洗效果不理想;中国发明专利(公开号:CN1990126A)公开了一种超临界二氧化碳清洗系统与方法,主要对晶圆或元件清洗,而结构复杂,操作繁琐,不宜于工业生产推广;中国实用新型专利(公开号:CN201720215U)公开了一种盲孔内螺纹无屑清洗装置,只是单一使用超声波清洗。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种半导体硅片清洗釜,它具有操作简单、清洗效果好、清洗效率高等特点。
为解决上述技术问题,本实用新型所采取的技术方案是:
一种半导体硅片清洗釜,包括釜体及与釜体密封连接釜盖,还包括插入釜体内部的清洗管,清洗管外端设有截止阀,在截止阀与釜体之间的清洗管上连接超生波发生器,在釜体壁上均布硅片吸盘连通孔,在釜体的外壁设有与硅片吸盘连通孔连通的负压连接通道,在釜体的内壁设有与硅片吸盘连通孔连通的硅片吸盘,硅片吸盘包括一端与硅片吸盘连通孔连通的连接管,连接管的另一端连接均布吸附微孔的吸附板,还包括受阀门控制的釜体排气口。
本实用新型进一步改进在于:
釜体内壁为竖立的圆筒形;釜盖为圆形,位于釜体的正上方;清洗管由釜盖的中心竖向插入釜体内部,釜体排气口位于釜盖上。
釜体设有旋转结构:在釜体的外周设有与其同轴心的筒形外壳,筒形外壳的上端与釜体上部密封旋转连接,负压连接通道由釜体与外壳之间的环形间隙形成,在外壳的底部设有与负压连接通道连通的吸气孔,外壳的底部中心设有电机,电机的转轴竖直向上通过外壳底部与釜体底部中心固定。
清洗管位于釜体内部部分的外壁设有多个喷嘴。
在截止阀与釜体之间的清洗管上连接两个超生波发生器。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于:
本实用新型中在釜体壁上均布硅片吸盘连通孔,在釜体的外壁设有与硅片吸盘连通孔连通的负压连接通道,在釜体的内壁设有与硅片吸盘连通孔连通的硅片吸盘,硅片吸盘包括一端与硅片吸盘连通孔连通的连接管,连接管的另一端连接均布吸附微孔的吸附板,根据半导体硅片只需对一面清洁度有严格要求的特点,通过负压方式使硅片吸盘固定半导体硅片,使需要清洁的一面暴露在釜体内清洗,改变了现有硅片装夹方式,提高了生产效率,改善清洗效果。(现有的清洗釜设计较为简单、抽象,对硅片的装夹方式一般是通过夹持元件来夹住硅片进行清洗,这种机械夹紧,效率低下,操作繁琐,且被夹持位置死区处往往残留颗粒)。包括釜体及与釜体密封连接釜盖,还包括插入釜体内部的清洗管,清洗管外端设有截止阀,在截止阀与釜体之间的清洗管上连接超生波发生器,使釜体内形成密闭空间,以便于清洗管注入超临界二氧化碳,超临界二氧化碳的微气泡能在超声波的作用下保持振动,对半导体硅片进行清洗,清洗效果好;还包括受阀门控制的釜体排气口,通过快速泄压,使含有污物的超临界二氧化碳直接通过釜体排气口快速排出,将杂质混合液快速带走,避免重新沉积到半导体硅片表面并产生空化作用,利于杂质脱落,达到对半导体硅片较好的清洗效果。釜体设有旋转结构,在电机的带动下使釜体旋转,加强清洗效果。本实用新型具有操作简单、清洗效果好、清洗效率高等特点。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是图1中硅片吸盘的结构示意图。
在附图中:1、釜体;2、釜盖;3、清洗管;4、超生波发生器;5、硅片吸盘连通孔;6、硅片吸盘;7、釜体排气口;8、外壳;9、负压连接通道;10、吸气孔;11、电机;12、转轴;13、喷嘴;14、半导体硅片。
具体实施方式
下面将结合附图和具体实施例对本实用新型进行进一步详细说明。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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