[实用新型]一种高速内置闪存的测试板有效
| 申请号： | 201520371267.1 | 申请日： | 2015-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN204884573U | 公开（公告）日： | 2015-12-16 |
| 发明（设计）人： | 孙文涛 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/48 | 分类号： | G11C29/48 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 刘克宽 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 高速 内置 闪存 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种高速内置闪存的测试板，其特征在于：包括用于连接上位测试机的测试插槽，所述插槽中具有两排平行的排针，其中一排排针是测试通道排针，所述测试通道排针的测试针脚一端连接上位测试机，另一端连接到测试板上的测试电路，另一排排针是抗干扰排针，所述抗干扰排针的抗干扰针脚的底端接电源地，所述抗干扰排针接收测试通道排针产生的电磁波并传导至电源地。
2.如权利要求1所述的一种高速内置闪存的测试板，其特征在于：所述抗干扰排针中一个针脚接电源地，另外的针脚连接该接电源地的针脚。
3.如权利要求1所述的一种高速内置闪存的测试板，其特征在于：所述测试电路包括芯片容置座，所述芯片容置座的管脚与所述测试通道排针的测试针脚的底端连接。
4.如权利要求3所述的一种高速内置闪存的测试板，其特征在于：所述芯片容置座设置于测试版的中心，所述测试插槽分布于所述芯片容置座的四周。
5.如权利要求4所述的一种高速内置闪存的测试板，其特征在于：芯片容置座两侧的测试插槽的通道排针的针脚的排序方向一致，以使得所有从上位测试机连接至所述测试插槽的排线方向一致。
6.如权利要求1所述的一种高速内置闪存的测试板，其特征在于：所述测试通道排针和抗干扰排针之间的距离小于测试通道排针中相邻针脚之间的距离。
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