[实用新型]内嵌式自容触控阵列、基板及测试治具

权利要求书

1.一种内嵌式自容触控阵列，包括：

多个触控电极，所述触控电极呈阵列排布且彼此绝缘；

多条触控电极线，每条所述触控电极线与一个所述触控电极电连接且与其他所述触控电极绝缘；

多个第一测试端，每一所述第一测试端与一条所述触控电极线的一端电连接；

多个第二测试端，每一所述第二测试端与一条所述触控电极线的另一端电连接。

2.如权利要求1所述的内嵌式自容触控阵列，其特征在于，还包括：

多个像素电极，所述像素电极与所述触控电极位于不同层，所述像素电极与所述触控电极线位于同一层，所述触控电极可在显示时复用为公共电极；

绝缘层，所述绝缘层位于所述像素电极与所述触控电极之间，所述绝缘层包括多个第一过孔；

其中，所述触控电极与所述触控电极线通过所述第一过孔电连接。

3.如权利要求2所述的内嵌式自容触控阵列，其特征在于，所述第一测试端和所述第二测试端与所述触控电极位于同一层，且所述绝缘层包括多个第二过孔和多个第三过孔，所述第一测试端与所述触控电极线通过所述第二过孔电连接，所述第二测试端与所述触控电极线通过所述第三过孔电连接。

4.如权利要求2所述的内嵌式自容触控阵列，其特征在于，所述第一测试端和所述第二测试端与所述触控电极线位于同一层且为相互连接的一体结构。

5.如权利要求1所述的内嵌式自容触控阵列，其特征在于，对于至少一所述触控电极线，在检测时，检测所述触控电极线对应的所述第一测试端至所述触控电极线对应的所述第二测试端之间的电阻。

6.如权利要求1所述的内嵌式自容触控阵列，其特征在于，对于至少一所述触控电极线，在检测时，为所述触控电极线电连接的所述第一测试端提供检测信号，在所述触控电极线电连接的所述第二测试端进行检测。

7.如权利要求1所述的内嵌式自容触控阵列，其特征在于，所述触控电极包括第一触控电极和第二触控电极，所述触控电极线包括第一触控电极线和第二触控电极线，所述第一触控电极对应第一触控电极线，所述第二触控电极对应第二触控电极线，在检测时：

所述第一触控电极线的第一测试端之间电连接或所述第一触控电极线的第二测试端之间电连接，从而形成一第一导电通路；

所述第二触控电极线的第一测试端之间电连接或所述第二触控电极线的第二测试端之间电连接，从而形成一第二导电通路。

8.如权利要求7所述的内嵌式自容触控阵列，其特征在于，所述第一触控电极与所述第二触控电极彼此相邻排列。

9.一种基板，包括：

一透明衬底；

多个如权利要求1-8任一项所述的内嵌式自容触控阵列。

10.一种如权利要求1-6中任一项所述内嵌式自容触控阵列测试治具，包括：

至少一第一探针；

至少一第二探针；

一输入单元，所述输入单元用于为所述第一探针提供信号。

一接收单元，所述接收单元用于从所述第二探针接收信号。

11.如权利要求10所述的测试治具，其特征在于，对于至少一所述触控电极线，在检测时，所述第一探针与所述第一测试端电连接，所述第二探针与所述第二测试端电连接。

12.如权利要求10所述的测试治具，其特征在于，所述触控电极包括第一触控电极和第二触控电极，所述触控电极线包括第一触控电极线和第二触控电极线，所述第一触控电极对应第一触控电极线，所述第二触控电极对应第二触控电极线，在检测时：

所述第一触控电极线的第一测试端之间电连接且所述第一触控电极线的第二测试端之间电连接，从而形成一第一导电通路；所述第二触控电极线的第一测试端之间电连接且所述第二触控电极线的第二测试端之间电连接，从而形成一第二导电通路；

其中，所述第一探针与所述第二探针分别与所述第一导电通路或所述第二导电通路电连接。