[实用新型]内嵌式自容触控阵列、基板及测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及触控领域，特别涉及一种内嵌式自容触控阵列、基板及其测试治具。

背景技术

在现有技术中，触摸屏一般包括内嵌式触摸屏和外挂式触摸屏，其中，内嵌式触摸屏与显示屏一体设计，制作于显示面板上。现有技术中一般只存在对显示屏的栅极线、数据线和显示像素的电学测试。没有针对触摸阵列，特别是内嵌式自电容型内嵌式自容触摸阵列的检测。从而导致了由于内嵌式自容触摸屏的内嵌式自容触控阵列的不良造成的不必要的浪费。

实用新型内容

本实用新型提供一种内嵌式自容触控阵列，包括：多个触控电极，所述触控电极呈阵列排布且彼此绝缘；多条触控电极线，每条所述触控电极线与一个所述触控电极电连接且与其他所述触控电极绝缘；多个第一测试端，每一所述第一测试端与一条所述触控电极线的一端电连接；多个第二测试端，每一所述第二测试端与一条所述触控电极线的另一端电连接。

可选的，所述内嵌式自容触控阵列还包括：多个像素电极，所述像素电极与所述触控电极位于不同层，所述像素电极与所述触控电极线位于同一层，所述触控电极可在显示时复用为公共电极；绝缘层，所述绝缘层位于所述像素电极与所述触控电极之间，所述绝缘层包括多个第一过孔；其中，所述触控电极与所述触控电极线通过所述第一过孔电连接。

可选的，所述第一测试端和所述第二测试端与所述触控电极位于同一层，且所述绝缘层包括多个第二过孔和多个第三过孔，所述第一测试端与所述触控电极线通过所述第二过孔电连接，所述第二测试端与所述触控电极线通过所述第三过孔电连接。

可选的，所述第一测试端和所述第二测试端与所述触控电极线位于同一层且为相互连接的一体结构。

可选的，对于至少一所述触控电极线，在检测时，检测所述触控电极线对应的所述第一测试端至所述触控电极线对应的所述第二测试端之间的电阻。

可选的，对于至少一所述触控电极线，在检测时，为所述触控电极线电连接的所述第一测试端提供检测信号，在所述触控电极线电连接的所述第二测试端进行检测。

可选的，所述触控电极包括第一触控电极和第二触控电极，所述触控电极线包括第一触控电极线和第二触控电极线，所述第一触控电极对应第一触控电极线，所述第二触控电极对应第二触控电极线，在检测时：

所述第一触控电极线的第一测试端之间电连接或所述第一触控电极线的第二测试端之间电连接，从而形成一第一导电通路；

所述第二触控电极线的第一测试端之间电连接或所述第二触控电极线的第二测试端之间电连接，从而形成一第二导电通路。

可选的，所述第一触控电极与所述第二触控电极彼此相邻排列。

本实用新型提供的内嵌式自容触控阵列由于设置了第一测试端和第二测试端，可以直接通过第一测试端和第二测试端进行电路检测，提高内嵌式自容触控阵列的可靠性；而且通过第一触控电极和第二触控电极的选取，可以使检测方式更加灵活，进一步提高检测效率。采用本实用新型提供的内嵌式自容触控阵列，可以提高产品可靠性，从而提高产品的质量。

本实用新型还提供了一种基板，包括：一透明衬底和多个本实用新型提供的内嵌式自容触控阵列。

本实用新型还提供了一种测试上述内嵌式自容触控阵列测试治具，包括：至少一第一探针；至少一第二探针；一输入单元，所述输入单元用于为所述第一探针提供信号。一接收单元，所述接收单元用于从所述第二探针接收信号。

可选的，对于至少一所述触控电极线，在检测时，所述第一探针与所述第一测试端电连接，所述第二探针与所述第二测试端电连接。

可选的，所述触控电极包括第一触控电极和第二触控电极，所述触控电极线包括第一触控电极线和第二触控电极线，所述第一触控电极对应第一触控电极线，所述第二触控电极对应第二触控电极线，在检测时：

所述第一触控电极线的第一测试端之间电连接且所述第一触控电极线的第二测试端之间电连接，从而形成一第一导电通路；所述第二触控电极线的第一测试端之间电连接且所述第二触控电极线的第二测试端之间电连接，从而形成一第二导电通路；

其中，所述第一探针与所述第二探针分别与所述第一导电通路或所述第二导电通路电连接。

本实用新型提供的治具可以快速准确地对本实用新型提供的内嵌式自容触控阵列以及基板进行检测，提高了产品的生产效率，增加了产品的可靠性，提升了产品的质量。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的一种触控阵列的俯视图；

图2A为图1所示触控阵列沿AA’的剖视图；