[实用新型]一种双触点测试探针有效
| 申请号： | 201520423705.4 | 申请日： | 2015-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN204789655U | 公开（公告）日： | 2015-11-18 |
| 发明（设计）人： | 崔磊 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 上海申浩律师事务所 31280 | 代理人： | 乐卫国 |
| 地址： | 201506 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 触点 测试 探针 | ||
【权利要求书】：
1.一种双触点测试探针，包括本体，本体上设置有一主针脚，其特征是，在主针脚旁边设置有一辅助针脚，辅助针脚的高度小于主针脚。
2.根据权利要求1所述的一种双触点测试探针，其特征是，主针脚、辅助针脚均为弹性片式导电体。
3.根据权利要求1所述的一种双触点测试探针，其特征是，辅助针脚的高度小于主针脚1-3mm。
4.根据权利要求1所述的一种双触点测试探针，其特征是，辅助针脚与主针脚之间的间距为2-6mm。
5.根据权利要求4所述的一种双触点测试探针，其特征是，辅助针脚与主针脚之间的间距为2mm。
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