[实用新型]一种双触点测试探针

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电子产品领域的测试探针，具体的来说涉及一种双触点测试探针。

背景技术

常规的测试用探针，触点为片式，只有一个针脚（如图1所示），测试的时候通过压力和被测产品的触点接触在一起，当被测产品的触点上有异物或者探针的针脚被异物顶偏，会造成对应针脚无法接触，造成点灯异常。

尤其在1.4英寸的可穿戴产品中，其触点较小，使用传统的探针压接时，由于接触面积较小，只有一个针脚，特别容易出现探针被异物顶偏或者被测产品的触点上有异物的情况，造成对应针脚无法接触，造成点灯异常。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于，克服现有技术中探针的存在的接触异常问题，提供一种双触点测试探针。

为了解决上述问题本实用新型的技术方案是这样的：

一种双触点测试探针，包括本体，本体上设置有一主针脚，在主针脚旁边设置有一辅助针脚，辅助针脚的高度小于主针脚。

主针脚、辅助针脚均为弹性片式导电体。

辅助针脚的高度小于主针脚1-3mm。

辅助针脚与主针脚之间的间距为2-6mm。优选的，辅助针脚与主针脚之间的间距为2mm。

有益效果，本实用新型所述的一种双触点测试探针，包含主针脚和辅助针脚，测试时，如果主针脚接触存在问题，通过按压时的压力，辅助针脚可以和被测产品的触点接触在一起，起到辅助接触功能，提高接触成功率。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式来详细说明本实用新型；

图1为现有技术中测试探针示意图。

图2为本实用新型所述的双触点测试探针示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。

针对常规的测试用探针，只有一个针脚，当被测产品的触点上有异物或者探针的针脚被异物顶偏时，会造成对应针脚无法接触，造成点灯异常的问题。

专门发明了一种主要用于小面积产品测试的，双触点测试探针，参看图2，双触点测试探针，包括本体1，本体1上设置有一主针脚2，主针脚2的作用与现有探针功能相同，测试时用于接触被测产品的触点。另外，为了测试接触的可靠性，在在主针脚2旁边设置有一辅助针脚3，辅助针脚3的高度小于主针脚2。如果主针脚2接触存在问题，通过按压时的压力，辅助针脚3可以和被测产品的触点接触在一起，起到辅助接触功能，提高接触成功率。

主针脚2、辅助针3脚均为弹性片式导电体，与本体为一体结构并相互导通。

辅助针脚的高度小于主针脚1mm。如果主针脚2接触存在问题，进一步按压时1mm距离，则辅助针脚3就和和被测产品的触点接触在一起了。很好的避免的测试不导通问题。辅助针脚的高度也可以根据实际情况进行调整。

为了使得主针脚2和辅助针脚3接触同一被测产品的触点，辅助针脚3与主针脚2之间的间距必须十分靠近，通常为2mm。但是也可以根据实际情况进行调整。

本实施例中所述的一种双触点测试探针，包含主针脚和辅助针脚，测试时，如果主针脚接触存在问题，通过按压时的压力，辅助针脚可以和被测产品的触点接触在一起，起到辅助接触功能，提高接触成功率。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型专利要求保护的范围由所附的权利要求书及其等同物界定。