[实用新型]微阵列芯片点样质量自动化判断系统有效
申请号: | 201520503219.3 | 申请日: | 2015-07-10 |
公开(公告)号: | CN205027674U | 公开(公告)日: | 2016-02-10 |
发明(设计)人: | 李勐;赵雷;黄明辉 | 申请(专利权)人: | 港龙生物技术(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人: | 韩英杰 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区高新区中区高新*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 芯片 质量 自动化 判断 系统 | ||
1.微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,包括:微阵列芯片,扫描仪,计算机软件数字化装置,以及软件对比装置,扫描仪、计算机软件数字化装置以及软件对比装置依次连接,扫描仪可对所述微阵列芯片进行扫描,所述微阵列芯片的组成包括基片,基片上设置点位,以及DNA探针、表面化学质控点探针和空白对照探针,各探针与点位对应,和空白点。
2.根据权利要求1所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述微阵列芯片设置检测26种HPV病毒不同基因型的DNA探针,并预留8个可扩展点位。
3.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述基片的4个“顶点”标记画出1个独立区域,该区域即为一个微阵列芯片,分为a-f行,和g-l列。
4.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述可扩展点位位于c行l列点位,e行k列点位,f行h列点位。
5.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,进一步包括内对照探针,所述内对照探针位于f行i点位、f行j列点位;所述表面化学质控点探针位于a行g列点位、a行l列点位、f行l列点位;所述空白对照探针位于f行k列点位;空白点位于f行g列点位,DNA探针位于其余点位。
6.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,每个DNA探针不同,依次为HPV16、18、31、33、35、39、45、51、52、56、58、59、68、6、11、40、42、43、44、53、54、55、57、66、67、73型DNA探针。
7.根据权利要求1所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述基片为玻璃、尼龙膜、硅片、塑料或者陶瓷。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于港龙生物技术(深圳)有限公司,未经港龙生物技术(深圳)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520503219.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于塑料薄膜样品X射线衍射测定的样品托架
- 下一篇:氨气浓度场的测量装置