[实用新型]微阵列芯片点样质量自动化判断系统有效

专利信息
申请号: 201520503219.3 申请日: 2015-07-10
公开(公告)号: CN205027674U 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: 李勐;赵雷;黄明辉 申请(专利权)人: 港龙生物技术(深圳)有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 代理人: 韩英杰
地址: 518057 广东省深圳市南山区高新区中区高新*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 阵列 芯片 质量 自动化 判断 系统
【权利要求书】:

1.微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,包括:微阵列芯片,扫描仪,计算机软件数字化装置,以及软件对比装置,扫描仪、计算机软件数字化装置以及软件对比装置依次连接,扫描仪可对所述微阵列芯片进行扫描,所述微阵列芯片的组成包括基片,基片上设置点位,以及DNA探针、表面化学质控点探针和空白对照探针,各探针与点位对应,和空白点。

2.根据权利要求1所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述微阵列芯片设置检测26种HPV病毒不同基因型的DNA探针,并预留8个可扩展点位。

3.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述基片的4个“顶点”标记画出1个独立区域,该区域即为一个微阵列芯片,分为a-f行,和g-l列。

4.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述可扩展点位位于c行l列点位,e行k列点位,f行h列点位。

5.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,进一步包括内对照探针,所述内对照探针位于f行i点位、f行j列点位;所述表面化学质控点探针位于a行g列点位、a行l列点位、f行l列点位;所述空白对照探针位于f行k列点位;空白点位于f行g列点位,DNA探针位于其余点位。

6.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,每个DNA探针不同,依次为HPV16、18、31、33、35、39、45、51、52、56、58、59、68、6、11、40、42、43、44、53、54、55、57、66、67、73型DNA探针。

7.根据权利要求1所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述基片为玻璃、尼龙膜、硅片、塑料或者陶瓷。

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