[实用新型]高空穴注入效率的LED外延结构有效
申请号: | 201520657363.2 | 申请日: | 2015-08-28 |
公开(公告)号: | CN204966527U | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 郑建钦;田宇;吴真龙;曾颀尧;赖志豪;林政志 | 申请(专利权)人: | 南通同方半导体有限公司;同方股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/06;H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100083 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 空穴 注入 效率 led 外延 结构 | ||
1.高空穴注入效率的LED外延结构,从下至上依次包括衬底(1)、GaN缓冲层(2)、未掺杂GaN层(3)、N型GaN层(4)、多量子阱(5)、电子阻挡层(6)、P型GaN层(7)和P型接触层(8),其中多量子阱(5)由InGaN层(13)和GaN层(12)构成,其特征在于:所述电子阻挡层(6)从下至上依次由p型AlxGa1-xN层(9)、AlN层(10)和p型InyGa1-yN层(11)构成,其中0<x≤0.3、0<y≤0.2,所述电子阻挡层(6)包括8-12个生长周期,生长压力为100-200Torr,在氮气环境中生长。
2.根据权利要求1所述的高空穴注入效率的LED外延结构,其特征在于:所述p型AlxGa1-xN层(9)的厚度为40-60埃,生长温度为900-1100℃。
3.根据权利要求1或2所述的高空穴注入效率的LED外延结构,其特征在于:所述AlN层(10)的厚度为5-15埃,生长温度为900-1100℃。
4.根据权利要求3所述的高空穴注入效率的LED外延结构,其特征在于:所述p型InyGa1-yN层(11)的厚度为20-40埃,生长温度为900-1100℃。
5.根据权利要求4所述的高空穴注入效率的LED外延结构,其特征在于:所述衬底(1)为蓝宝石衬底、GaN衬底、Si衬底、SiC衬底或者LAO衬底中的任意一种。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南通同方半导体有限公司;同方股份有限公司,未经南通同方半导体有限公司;同方股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520657363.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于设备绝缘电阻测试的导线连接装置
- 下一篇:弹性连接器功能测试仪