[实用新型]高空穴注入效率的LED外延结构有效
申请号: | 201520657363.2 | 申请日: | 2015-08-28 |
公开(公告)号: | CN204966527U | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 郑建钦;田宇;吴真龙;曾颀尧;赖志豪;林政志 | 申请(专利权)人: | 南通同方半导体有限公司;同方股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/06;H01L33/00 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 空穴 注入 效率 led 外延 结构 | ||
技术领域
本实用新型涉及发光二极管外延技术领域,特别是高空穴注入效率的LED外延结构。
背景技术
III-V族氮化物发光二极管具有高效、节能、环保、寿命长等优点,在固态照明领域有着重要的应用。随着III-V族氮化物发光二极管应用范围的增加,对发光二极管的光电特性的要求也越来越高。
在现有技术中,由于极化效应、电子溢流造成的效率下降(EfficiencyDroop)现象,常用p型AlGaN作为电子阻挡层来减小电子溢流,提升亮度。但由于Mg在AlGaN的激活能高达150-250meV,使得在室温下的空穴浓度很低,只有少数的Mg可以被激活。随着Al浓度的增加,Mg在p型AlGaN电子阻挡层的激活能就越高,空穴浓度就越低,也越能阻挡空穴的注入,直接影响了发光二级管的发光效率。
发明内容
针对上述现有技术中存在的不足,本实用新型的目的是提供一种高空穴注入效率的LED外延结构。它采用由p型AlxGa1-xN层、AlN层和p型InyGa1-yN超晶格层构成电子阻挡层,通过应变和减小合金散射来提高空穴浓度和迁移率,提升发光二级管的发光效率。
为了达到上述发明目的,本实用新型的技术方案以如下方式实现:
高空穴注入效率的LED外延结构,从下至上依次包括衬底、GaN缓冲层、未掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱、电子阻挡层、P型GaN层和P型接触层。其中多量子阱由InGaN层和GaN层构成。其结构特点是,所述电子阻挡层从下至上依次由p型AlxGa1-xN层、AlN层和p型InyGa1-yN层构成,其中0<x≤0.3、0<y≤0.2。所述电子阻挡层包括8-12个生长周期,生长压力为100-200Torr,在氮气环境中生长。
在上述LED外延结构中,所述p型AlxGa1-xN层的厚度为40-60埃,生长温度为900-1100℃。
在上述LED外延结构中,所述AlN层的厚度为5-15埃,生长温度为900-1100℃。
在上述LED外延结构中,所述p型InyGa1-yN层的厚度为20-40埃,生长温度为900-1100℃。
在上述LED外延结构中,所述衬底为蓝宝石衬底、GaN衬底、Si衬底、SiC衬底或者LAO衬底中的任意一种。
本实用新型由于采用了上述结构,即采用p型AlxGa1-xN层、AlN层和p型InyGa1-yN超晶格层作为电子阻挡层。通过AlN层提供的应变来增加空穴浓度,并且能够通过减小合金散射的方式来提高空穴迁移率,从而减小电子溢流,提升LED亮度。
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步说明。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
参看图1,本实用新型高空穴注入效率的LED外延结构从下至上依次包括衬底1、GaN缓冲层2、未掺杂GaN层3、N型GaN层4、多量子阱5、电子阻挡层6、P型GaN层7和P型接触层8。其中电子阻挡层6包括8-12生长周期,每一个周期从下至上依次包含p型AlxGa1-xN层9、AlN层10和p型InyGa1-yN层11,生长压力为100-200Torr,在氮气环境中生长。p型AlxGa1-xN层9的厚度为40-60埃,AlN层10的厚度为5-15埃,p型InyGa1-yN层11的厚度为20-40埃,生长温度为900-1100℃。
本实用新型LED外延结构采用以下具体实施方式:
实施例一:
(1)将蓝宝石衬底1在1000℃下进行高温清洁处理,时间为10min,然后进行氮化处理。
(2)将温度降低至500℃,生长GaN缓冲层2,厚度为100埃,压力为300Torr。
(3)不通三甲基镓(TMGa),将温度升高至1000℃,对GaN缓冲层2进行退火处理,时间为3min,然后通入TMGa生长未掺杂GaN层3,厚度为1μm,压力为300Torr。
(4)通入乙硅烷,温度为1000℃,生长N型GaN层4,厚度2μm,压力为100Torr。
(5)N型GaN层4生长结束后,生长多量子阱5,多量子阱5由InGaN层13和GaN层12构成。GaN层12的生长温度为800℃,厚度为100埃,InGaN层13的生长温度为750℃,厚度为28埃,多量子阱5的生长压力为100Torr,多量子阱5的周期数为8,在氮气环境中生长。
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