[实用新型]一种用于存储设备的温控式测试系统

权利要求书

1.一种用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，包括温控试验腔体、置于所述温控试验腔体内的至少一块测试控制单元、用于在所述温控试验腔体内产生高温或者低温的制冷/制热装置、与所述温控试验腔体相邻设置的测试腔体、以及置于所述测试腔体内用于控制所述制冷/制热装置和所述测试控制单元的测试系统，其中，

所述测试系统包括至少一台测试主机，该测试主机主板上设有多个第一存储数据接口；

所述测试控制单元包括至少一个用于与被测试存储设备相连接的存储设备测试接口和控制线路板，所述测试控制单元与所述测试主机相连接，用于接收所述测试主机的控制信号、数据信号和电源信号；所述存储设备测试接口固定在所述测试控制单元上，其正面设有与被测试存储设备相卡合的标准接口，其背面直接设有与所述标准接口相连接的信号延长线，所述信号延长线另一端用于接收数据信号的部分设有第二存储数据接口，所述第一存储数据接口和所述第二存储数据接口之间对应连接使所述存储设备测试接口与所述测试主机直接连接；所述信号延长线另一端中用于接收电源信号的部分设有存储电源接口，所述存储电源接口与所述控制线路板相连接并受控于所述控制线路板。

2.根据权利要求1所述的用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，所述第一存储数据接口由该测试主机主板本身自带或者通过在该主板上的多个PCI-E插槽插接存储数据接口扩展卡扩展得到。

3.根据权利要求1或2所述的用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，所述制冷/制热装置设置在所述温控试验腔体的上方。

4.根据权利要求3所述的用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，所述测试系统与所述温控试验腔体左右设置，所述测试系统的多台测试主机与所述温控试验腔体内的多块测试控制单元一一对应且基本处于同一水平位置上。

5.根据权利要求4所述的用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，所述测试控制单元还包括多个挡板，所述挡板用于固定所述存储设备测试接口和所述控制线路板。

6.根据权利要求4所述的用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，所述温控试验腔体和所述测试腔体之间还设有隔板。

7.根据权利要求4所述的用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，所述温控试验腔体靠近所述测试腔体一侧的内壁上还设有多个与所述测试腔体连通的出线孔，所述出线孔与所述测试系统和所述测试控制单元之间的连接线的尺寸相适应。

8.根据权利要求7所述的用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，所述出线孔中还设有绝热胶泥，所述绝热胶泥用于封闭所述温控试验腔体的引出连接线与所述出线孔之间的空隙。

9.根据权利要求4所述的用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，还包括与所述测试主机相连接的常温测试区，所述常温测试区设置在所述测试腔体的侧门上，并设有多个与所述测试系统相连接的存储设备测试接口。

10.根据权利要求1所述的用于存储设备的温控式测试系统，其特征在于，所述存储设备测试接口为SATA接口、SAS接口、PCI-E接口或USB接口中的一种或者几种组合；所述第一存储数据接口或所述第二存储数据接口为SATA接口、SAS接口、PCI-E接口或USB接口中的任一种；所述控制线路板与所述测试主机之间通过SATA、SAS、PCI-E、UART或USB等数据总线相连接。