[实用新型]一种用于存储设备的温控式测试系统

说明书

技术领域

本实用新型属于控制应用领域，尤其涉及一种用于存储设备的温控式测试系统。

背景技术

近年来，随着技术日益成熟，存储设备(固态硬盘、U盘等)在消费市场得到广泛应用，并从消费领域逐渐深入到工业、军事等特殊领域。这些特殊领域的市场对固态硬盘的高低温环境适应性、可靠性、通断电测试(powercycle)等方面提出了更高的要求，也引起固态硬盘生产厂家的重视。由于固态硬盘的闪存(flash)供应及其制造技术全部由国外少数几个厂家控制，特殊用途的、宽温的闪存芯片存在购买困难和限售等问题，使得硬盘生产厂家在生产时不仅需要做高低温环境试验，还需要进行批量生产的高低温筛选，极大地增加了存储测试设备的测试难度和复杂度。

现有技术中，对存储设备的测试通常将其接在测试电脑，在测试电脑中运行测试程序实现识盘、格式化、初始化、读写速度、连续物理读写,powercycle、全盘擦除等测试项目，从而判断存储设备性能是否符合标准。但现有技术中存储设备生产厂家普遍缺乏专用的高低温设备，存储设备的高低温测试通常采用标准的高低温试验箱加外置测试电脑的方法，即将被测存储设备放置在高低温试验箱中，从试验箱中引出数据延长线与测试电脑相连接。该方法存在操作困难、布置凌乱、测试盘数量少、效率低下、不适合大批量生产等明显弊端。虽然现有技术中也有专用高低温设备，但也是仅仅经高低温试验箱和多个测试电脑简单合成一体，虽然在整体操作性能上得到了一定改进，但对线路布置、测试盘扩展等问题并未进行深入的研究，还存在诸多问题，从而影响存储设备测试的精度和效率。

参见图1，所示为现有技术中存储设备高低温测试系统的连接框图，测试线路板上设有多个用于连接被测存储设备的存储设备接口，现以SATA接口的硬盘为例，与被测SATA硬盘相连接的SATA硬盘接口以焊接的方式固定在测试线路板上，同时在测试线路板设置SATA信号接口和电源信号接口，通过数据线和电源线使其与电脑主板的SATA接口和电源接口相连接，再在测试线路板上布置线路与SATA硬盘接口电气连接。该连接方式中，电脑主板的SATA信号通过测试线路板进行信号中转后再与被测硬盘相连接，导致硬盘数据信号衰减，从而影响测试的可靠性和标准性。

故，针对目前现有技术中存在的上述缺陷，实有必要进行研究，以提供一种方案，解决现有技术中存在的缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对上述问题，提供一种适用于各种存储设备、测试盘数量多、效率高、适合大批量生产测试的温控式测试系统。

为达到上述目的，本实用新型采用了下列技术方案：

一种用于存储设备的温控式测试系统，包括温控试验腔体、置于所述温控试验腔体内的至少一块测试控制单元，用于在所述温控试验腔体内产生高温或者低温的制冷/制热装置、与所述温控试验腔体相邻设置的测试腔体、以及置于所述测试腔体内用于控制所述制冷/制热装置和所述测试控制单元的测试系统，其中，

所述测试系统包括至少一台测试主机，该测试主机主板上设有多个第一存储数据接口；

所述测试控制单元包括至少一个用于与被测试存储设备相连接的存储设备测试接口和控制线路板，所述测试控制单元与所述测试主机相连接，用于接收所述测试主机的控制信号、数据信号和电源信号；所述存储设备测试接口固定在所述测试控制单元上，其正面设有与被测试存储设备相卡合的标准接口，其背面直接设有与所述标准接口相连接的信号延长线，所述信号延长线另一端中用于接收数据信号的部分设有第二存储数据接口，所述第一存储数据接口和所述第二存储数据接口之间对应连接使所述存储设备测试接口与所述测试主机直接连接；所述信号延长线另一端中用于接收电源信号的部分设有存储电源接口，所述存储电源接口与所述控制线路板相连接并受控于所述控制线路板。

优选地，所述第一存储数据接口由该测试主机主板本身自带或者通过在该主板上的多个PCI-E插槽插接存储数据接口扩展卡扩展得到。

优选地，所述制冷/制热装置设置在所述温控试验腔体的上方。

优选地，所述测试系统与所述温控试验腔体左右设置，所述测试系统的多台测试主机与所述温控试验腔体内的多块测试控制单元一一对应且基本处于同一水平位置上。

优选地，所述测试控制单元还包括多个挡板，所述挡板用于固定所述存储设备测试接口和所述控制线路板。

优选地，所述温控试验腔体和所述测试腔体之间还设有隔板。