[实用新型]检测设备

权利要求书

1.一种检测设备，用以检测一基材，其特征在于，所述检测设备包括：

一光源装置，所述光源装置包含：

一发光模组，所述发光模组具有用以发出光线的一发光区；及

一透光片，所述透光片具有位于相对侧的一入光面与一出光面，所述透光片的所述出光面上形成有多个微结构，并且多个所述微结构用以导引所述发光模组所发出的光线沿一预设路径行进，并且经由多个所述微结构导引的光线路径区域定义为一检测区域；

一光接收装置，所述光接收装置与所述光源装置彼此相对应地设置，并且所述光接收装置设有一接收区，而所述接收区与所述透光片的所述出光面彼此相向，并且所述接收区设置于所述预设路径以外的位置；以及

一控制装置，所述控制装置电性连接于所述光接收装置，用以取得所述光接收装置所接收的光线强度；

其中，当所述基材的未形成有缺陷的区块经过所述检测区域时，所述发光模组所发出的光线沿所述预设路径并经过所述基材而行进，以使所述控制装置取得的光线强度为一第一强度；

其中，当所述基材的形成有至少一缺陷的区块经过所述检测区域时，所述发光模组所发出的光线沿所述预设路径并经过所述基材而行进，于沿经所述基材的缺陷的光线产生偏折而脱离所述预设路径，并有至少部分光线行进至所述光接收装置的所述接收区，以使所述控制装置取得的光线强度为高于所述第一强度的一第二强度，藉以得知所述缺陷位于所述基材上的位置。

2.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述光源装置的所述发光模组与所述透光片以及所述光接收装置沿一高度方向排列，并且所述检测设备用以供所述基材沿垂直于所述高度方向的一横轴方向穿过所述检测区域。

3.根据权利要求2所述的检测设备，其特征在于，多个所述微结构为彼此相同的构造，并且垂直于所述横轴方向的所述透光片的截面呈圆弧状。

4.根据权利要求3所述的检测设备，其特征在于，在垂直于所述横轴方向的所述透光片的截面上，每个所述微结构的形状呈等腰直角三角形。

5.根据权利要求3所述的检测设备，其特征在于，垂直于所述横轴方向的所述透光片的圆弧状截面的圆心角不大于90度。

6.根据权利要求2所述的检测设备，其特征在于，多个所述微结构为彼此相异的构造，并且所述透光片为平板状。

7.根据权利要求6所述的检测设备，其特征在于，垂直于所述横轴方向的所述透光片的截面形状等同于一菲涅尔透镜沿其中心轴截取的截面形状。

8.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述检测设备进一步包括有一输送装置，并且所述输送装置包括多个滚轮，用以输送所述基材穿过所述检测区域。

9.根据权利要求2至7中任一项所述的检测设备，其特征在于，在垂直于所述横轴方向的所述检测区域的截面上，所述检测区域自多个所述微结构朝所述接收区的方向逐渐地缩小。

10.根据权利要求2至8中任一项所述的检测设备，其特征在于，所述检测设备进一步限定为用以检测一透光基材的穿透式检测设备或是用以检测一非透光基材的反射式检测设备。