[实用新型]检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种检测设备，且特别涉及一种用以检测基材的缺陷位置的检测设备。

背景技术

现今的产品大都以大量生产来降低生产成本，而在产品进行大量生产的同时，检测设备如何能够有效地进行检测，则成为重要的课题之一。例如：在产品生产前，制作产品所需的材料大都须先经检测，藉以淘汰具有缺陷的材料，进而提高产品的良率且降低生产成本。

许多产品以基材制造生产，因此，基材的检测对于产品的良率具有不可忽视的影响，其中，基材的检测常需要确认基材的正反两个表面是否有缺陷，例如：凹陷、凸起、破损、擦伤、异物吸附或刮伤等问题。

因此为了提供品质较佳的基材，通常会通过人工进行目视检测，通过将基材设置于输送装置上，并以人眼进行观测，检测这些基材是否有缺陷，并记录这些缺陷区域。然而，上述通过人眼进行检测的方式，容易因为眼睛在长时间的观测下而产生疲劳或误判，开始产生基材缺陷辨别率下降的情形，且对于单一产品的缺陷判断标准也会不一致。此外，也由于是通过人眼进行检测，因此基材在输送装置上的速度也不能太快。进一步来说，当缺陷很小或是待检测的基材是薄膜基材时，人眼就无法进行辨识，若要辨识也需要通过图像放大器进行观测，然而，还是会产生前述问题。

实用新型内容

本实用新型实施例在于提供一种检测设备，其能有效地改善常用基材检测上的缺陷。

本实用新型实施例提供一种检测设备，用以检测一基材，该检测设备包括：一光源装置、一光接收装置及一控制装置，光源装置包含：一发光模组，具有用以发出光线的一发光区；及一透光片，具有位于相对侧的一入光面与一出光面，该透光片的出光面上形成有多个微结构，并且这些微结构用以导引该发光模组所发出的光线沿一预设路径行进，并且经由这些微结构导引的光线路径区域定义为一检测区域；光接收装置与该光源装置彼此相对应地设置，并且该光接收装置设有一接收区，而该接收区与该透光片的出光面彼此相向，并且该接收区设置于该预设路径以外的位置；控制装置电性连接于该光接收装置，用以取得该光接收装置所接收的光线强度；其中，当该基材的未形成有缺陷的区块经过该检测区域时，该发光模组所发出的光线沿该预设路径并经过该基材而行进，以使该控制装置取得的光线强度为一第一强度；其中，当该基材的形成有至少一缺陷的区块经过该检测区域时，该发光模组所发出的光线沿该预设路径并经过该基材而行进，于沿经该基材的缺陷的光线产生偏折而脱离该预设路径，并有至少部分光线行进至该光接收装置的接收区，以使该控制装置取得的光线强度为高于该第一强度的一第二强度，藉以得知该缺陷位于该基材上的位置。

进一步地，所述光源装置的所述发光模组与所述透光片以及所述光接收装置沿一高度方向排列，并且所述检测设备用以供所述基材沿垂直于所述高度方向的一横轴方向穿过所述检测区域。

进一步地，多个所述微结构为彼此相同的构造，并且垂直于所述横轴方向的所述透光片的截面呈圆弧状。

进一步地，在垂直于所述横轴方向的所述透光片的截面上，每个所述微结构的形状呈等腰直角三角形。

进一步地，垂直于所述横轴方向的所述透光片的圆弧状截面的圆心角不大于90度。

进一步地，多个所述微结构为彼此相异的构造，并且所述透光片为平板状。

进一步地，垂直于所述横轴方向的所述透光片的截面形状等同于一菲涅尔透镜沿其中心轴截取的截面形状。

进一步地，所述检测设备进一步包括有一输送装置，并且所述输送装置包括多个滚轮，用以输送所述基材穿过所述检测区域。

进一步地，在垂直于所述横轴方向的所述检测区域的截面上，所述检测区域自多个所述微结构朝所述接收区的方向逐渐地缩小。

进一步地，所述检测设备进一步限定为用以检测一透光基材的穿透式检测设备或是用以检测一非透光基材的反射式检测设备。

综上所述，本实用新型实施例所提供的检测设备，其通过透光片搭配发光模组与光接收装置，藉以使沿经该基材的光线能够依其强度大小而呈现出基材的局部结构特性，以利于控制装置进行基材缺陷有无及位置判断，进而提升基材的缺陷检测速度及准确性。

为能更进一步了解本实用新型的特征及技术内容，请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图，然而所附图式仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型的权利范围作任何的限制。

附图说明

图1为本实用新型检测设备第一实施例的立体示意图。

图2A为图1垂直于横轴方向的剖视示意图(一)。

图2B为图2A的检测数据示意图。

图3A为图1垂直于横轴方向的剖视示意图(二)。