[实用新型]测试装置

权利要求书

1.一种应用于测试设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置包含：

一上导引板，具有多个上贯穿开口；

一下导引板，位于所述上导引板的一侧，具有多个下贯穿开口，所述上导引板与所述下 导引板之间具有一测试装置偏移量d₂；以及

多个弹性接触结构，设置于所述上导引板与所述下导引板之间，每一所述弹性接触结 构各依序具有一接触结构尖段、一接触结构身段与一接触结构尾段，每一所述弹性接触结 构分别单独穿过每一所述上贯穿开口与每一所述下贯穿开口，每一所述弹性接触结构的所 述接触结构尖段与所述接触结构尾段之间分别具有一弹性接触结构偏移量，每一所述弹性 接触结构具有一目标弹性接触结构偏移量d₁，所述目标弹性接触结构偏移量d₁与所述测试 装置偏移量d₂之间的关系符合以下关系式：

d₂＝d₁±50～200微米，其中，d₁和d₂的单位均为微米。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，具有最小弹性接触结构偏移量的所述弹 性接触结构，其所述最小弹性接触结构偏移量为d₁减去25微米。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，具有最大弹性接触结构偏移量的所述弹 性接触结构，其所述最大弹性接触结构偏移量为d₁加上25微米。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述上导引板与所述下导引板之间的所 述测试装置偏移量为每一所述上贯穿开口的中心轴相对于每一所述下贯穿开口的中心轴 之间的距离。

5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述上导引板与所述下导引板二者之间 的所述测试装置偏移量为呈相对设置。

6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述接触结构尖段的一接触结构尖端自 其中心轴拉出一第一假想线，所述接触结构身段与所述接触结构尾段的交点垂直拉出一第 二假想线，所述第二假想线平行于所述接触结构尖段，每一所述弹性接触结构的弹性接触 结构偏移量为所述第一假想线与所述第二假想线之间的距离。

7.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，每一所述弹性接触结构的所述接触结构 身段具有一弹性部。

8.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，每一所述弹性接触结构为能弹性变形的 金属结构。

9.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，当所述目标弹性接触结构偏移量与所述 测试装置偏移量之间的关系符合以下关系式d₂＝d₁-50～200微米时，所述测试装置偏移量 小于所述最小弹性接触结构偏移量。

10.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，当所述目标弹性接触结构偏移量与所 述测试装置偏移量之间的关系符合以下关系式d₂＝d₁+50～200微米时，所述测试装置偏移 量大于所述最大弹性接触结构偏移量。