[实用新型]测试装置

说明书

技术领域

本实用新型是关于一种测试装置，且特别是关于一种测试设备的测试装置。

背景技术

公知的测试设备可包含电路板、空间转换板与测试装置。测试装置具有多个弹性 接触结构与定位弹性接触结构用的上导引板与下导引板。弹性接触结构的两端分别穿出上 导引板与下导引板，其中穿出下导引板的一端用来接触待测物(deviceundertest,简称 DUT)上的接触接点，例如焊垫(pad)或凸块(bump)；而穿出上导引板的一端通过空间转换板 与电路板电性连接。而下导引板上的贯穿孔的排列方式皆对应待测物上的接触接点。

一般而言，进行测试装置的组装，是先将弹性接触结构固定在下导引板上，之后再 安装上导引板，但组装完成后，测试装置中的这些弹性接触结构常常会出现左右偏摆方向 不一致，因此容易造成测试装置中这些弹性接触结构无法与待测物稳定接触的问题。

实用新型内容

本实用新型提供了一种测试装置，可以有效使得测试装置中的多根弹性接触结构 大致上朝同一方向摆动。

本实用新型提供了一种应用于测试设备的测试装置，所述测试装置包含具有多个 上贯穿开口的一上导引板，具有多个下贯穿开口的一下导引板，所述下导引板位于所述上 导引板的一侧，所述上导引板与所述下导引板之间具有一测试装置偏移量d₂，以及多个弹 性接触结构。每一所述弹性接触结构设置于所述上导引板与所述下导引板之间，每一所述 弹性接触结构各依序具有一接触结构尖段、一接触结构身段与一接触结构尾段，每一所述 弹性接触结构分别单独穿过每一所述上贯穿开口与每一所述下贯穿开口，每一所述弹性接 触结构的所述接触结构尖段与所述接触结构尾段之间分别具有一弹性接触结构偏移量， 每一所述弹性接触结构具有一目标弹性接触结构偏移量d₁，所述目标弹性接触结构偏移量 d₁与所述测试装置偏移量d₂之间的关系符合以下关系式：d₂＝d₁±50～200微米，其中d₁和d₂的单位均为微米。

如上述的测试装置，其中，具有最小弹性接触结构偏移量的所述弹性接触结构，其 所述最小弹性接触结构偏移量为d₁减去25微米。

如上述的测试装置，其中，具有最大弹性接触结构偏移量的所述弹性接触结构，其 所述最大弹性接触结构偏移量为d₁加上25微米。

如上述的测试装置，其中，所述上导引板与所述下导引板之间的所述测试装置偏 移量为每一所述上贯穿开口的中心轴相对于每一所述下贯穿开口的中心轴之间的距离。

如上述的测试装置，其中，所述上导引板与所述下导引板二者之间的所述测试装 置偏移量为呈相对设置。

如上述的测试装置，其中，所述接触结构尖段的一接触结构尖端自其中心轴拉出 一第一假想线，所述接触结构身段与所述接触结构尾段的交点垂直拉出一第二假想线，所 述第二假想线平行于所述接触结构尖段，每一所述弹性接触结构的弹性接触结构偏移量为 所述第一假想线与所述第二假想线之间的距离。

如上述的测试装置，其中，每一所述弹性接触结构的所述接触结构身段具有一弹 性部。

如上述的测试装置，其中，每一所述弹性接触结构为能弹性变形的金属结构。

如上述的测试装置，其中，当所述目标弹性接触结构偏移量与所述测试装置偏移 量之间的关系符合以下关系式d₂＝d₁-50～200微米时，所述测试装置偏移量小于所述最小 弹性接触结构偏移量。

如上述的测试装置，其中，当所述目标弹性接触结构偏移量与所述测试装置偏移 量之间的关系符合以下关系式d₂＝d₁+50～200微米时，所述测试装置偏移量大于所述最大 弹性接触结构偏移量。

本实用新型通过设计目标弹性接触结构偏移量d₁与测试装置偏移量d₂之间的关系 符合以下关系式：d₂＝d₁±50～200微米，进而可以达到测试装置在组装完成后，可以实现让 测试装置中的这些弹性接触结构大致上朝向同一方向摆动的目的。

附图说明