[实用新型]一种导电部高度测试装置有效
| 申请号： | 201520862103.9 | 申请日： | 2015-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN205193171U | 公开（公告）日： | 2016-04-27 |
| 发明（设计）人： | 覃绍仕;许益明;邵一祥 | 申请（专利权）人： | 上海与德通讯技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/00;G01R27/02 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 201506 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 导电 高度 测试 装置 | ||
1.一种导电部高度测试装置，其特征在于，用于测试接地金属板上的 多个待测导电部的高度；所述导电部高度测试装置包含：测试电路板、多个 指示元件以及供电电源；
所述测试电路板包含多个导电测试部，各导电测试部对应于各待测导电 部；
所述多个指示元件设置于所述测试电路板，各指示元件的第一端电性连 接于各导电测试部；
所述供电电源连接于各指示元件的第二端；
于测试时，所述测试电路板盖合于所述接地金属板；根据各指示元件的 状态，判断出各指示元件所连接的导电测试部对应的待测导电部的高度是否 符合要求。
2.根据权利要求1所述的导电部高度测试装置，其特征在于，各导电 测试部上用于与各待测导电部对应接触的导电接触面位于同一平面内。
3.根据权利要求2所述的导电部高度测试装置，其特征在于，各导电 测试部为所述测试电路板上的露铜部。
4.根据权利要求2所述的导电部高度测试装置，其特征在于，各导电 露铜区域等间距排列。
5.根据权利要求4所述的导电部高度测试装置，其特征在于，相邻两 个导电测试部之间的间距的取值范围是0.5mm～1mm。
6.根据权利要求1所述的导电部高度测试装置，其特征在于，各导电 测试部位于所述测试电路板的第一表面；所述测试电路板还包含多个测试 点，各测试点位于所述测试电路板的与所述第一表面相对的第二表面；各指 示元件的第一端通过各测试点电性连接于各导电测试部。
7.根据权利要求1所述的导电部高度测试装置，其特征在于，所述指 示元件为发光二极管，所述指示元件的第一端和第二端分别为所述发光二极 管的负极和正极。
8.根据权利要求1所述的导电部高度测试装置，其特征在于，所述导 电部高度测试装置还包含多个匹配电阻，所述多个匹配电阻设置于所述测试 电路板；所述供电电源通过各匹配电阻连接于各指示元件的第二端。
9.根据权利要求1所述的导电部高度测试装置，其特征在于，所述接 地金属板上形成有冲压成型的筋条，各待测导电部为设置于所述筋条的点胶 部。
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