[实用新型]一种导电部高度测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及导电测试技术领域，特别涉及一种导电部高度测试装 置。

背景技术

电子设备的主板上的重要元器件都要有屏蔽罩遮盖，以防止信号相互干 扰。目前，除了传统的有钢片弯折成型的屏蔽盖外，常用的还有点部屏蔽盖。

如图1所示，点部屏蔽盖指的是在金属中框1上长出一圈围墙2，在围 墙顶部点上柔性导电部3；在主板(图未示)相应位置留出露铜。当主板装 配后，导电部和主板露铜紧密接触，达到屏蔽效果。如果由于柔性导电部高 度没达到设计要求，或高低不平，有可能导致二者接触不良，进而造成各种 干扰问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种导电部高度测试装置，能够快速测试出 待测导电部的高度是否满足要求，从而为组装后的电子设备提供质量保证。

为解决上述技术问题，本实用新型的实施方式提供了一种导电部高度测 试装置，用于测试接地金属板上的多个待测导电部的高度；所述导电部高度 测试装置包含：所述测试电路板包含多个导电测试部，各导电测试部对应于 各待测导电部；所述多个指示元件设置于所述测试电路板，各指示元件的第 一端电性连接于各导电测试部；所述供电电源连接于各指示元件的第二端； 于测试时，所述测试电路板盖合于所述接地金属板；根据各指示元件的状态， 判断出各指示元件所连接的导电测试部对应的待测导电部的高度是否符合要 求。

相对于现有技术而言，测试电路板上的各导电测试部对应于各待测导电 部，各指示元件的第一端电性连接于各导电测试部，各指示元件的第二端连 接于供电电源；根据各指示元件的状态，判断出各指示元件所连接的导电测 试部对应的待测导电部的高度是否符合要求。从而，本实用新型提供的测试 装置，能够快速地测试出多个待测导电部的高度是否符合要求，从而为组装 后的电子设备提供质量保证。

优选的，各导电测试部上用于与各待测导电部对应接触的导电接触面位 于同一平面内；即，能够测试出各待测导电部的平整性。

优选的，各导电测试部为所述测试电路板上的露铜部；采用露铜部作为 导电测试部，简单方便。

优选的，各导电测试部等间距排列；相邻两个导电测试部之间的间距范 围是0.5mm～1mm。因此，当应用于测试各待测导电部的平整度时，有利于 提高测试的准确性。

优选的，导电测试部位于所述测试电路板的第一表面；所述测试电路板 还包含多个测试点，各测试点位于所述测试电路板的与所述第一表面相对的 第二表面；各指示元件的第一端通过各测试点电性连接于各导电测试部。设 置与各导电测试部位相连的各测试点，能够方便操作人员检测各导电测试部 与待测导电部的接触电阻，从而准确地判断出导电测试部与待测导电部的接 触可靠性。

优选的，所述指示元件为发光二极管，所述指示元件的第一端和第二端 分别为所述发光二极管的负极和正极。

优选的，所述导电部高度测试装置还包含多个匹配电阻，所述多个匹配 电阻设置于所述测试电路板；所述供电电源通过各匹配电阻连接于各指示元 件的第二端。

优选的，所述接地金属板上形成有冲压成型的筋条，各待测导电部为设 置于所述筋条的点胶部。

附图说明

图1是现有技术中的金属中框的局部示意图；

图2是根据本实用新型第一本实施方式中导电部高度测试装置的测试电 路板的第一表面的示意图；

图3是根据本实用新型第一本实施方式中的多条测试支路的示意图；

图4是根据本实用新型第二本实施方式中的多条测试支路的示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对 本实用新型的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可 以理解，在本实用新型各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出 了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种 种变化和修改，也可以实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。