[实用新型]望远系统视放大率测量装置有效
| 申请号： | 201521050473.9 | 申请日： | 2015-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN205300896U | 公开（公告）日： | 2016-06-08 |
| 发明（设计）人： | 薛勋;赵建科;胡丹丹;张洁;郭毅;昌明;刘尚阔;王争锋;李坤;李晶;曹昆;马小龙;陈永权;段亚轩;田留德;潘亮;赛建刚;周艳;高斌;薛斌;徐亮;刘峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 陈广民 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 望远 系统 放大率 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种望远系统视放大率测量装置，其特征在于：包括激光平面干涉仪、 一号双面平面镜、一号双坐标自准直仪、二号双面平面镜和二号双坐标自准直 仪；所述激光平面干涉仪位于被测望远系统的物方端；
所述一号双面平面镜一侧紧贴于被测望远系统的上壁或者下壁，一号双面 平面镜的另一侧安装一号双坐标自准直仪；
所述二号双面平面镜一侧朝向被测望远系统的像方端，二号双面平面镜的 另一侧安装二号双坐标自准直仪。
2.根据权利要求1所述的望远系统视放大率测量装置，其特征在于：所述 激光平面干涉仪的激光波长为632.8nm。
3.根据权利要求1或2所述的望远系统视放大率测量装置，其特征在于： 所述一号双坐标自准直仪和二号双坐标自准直仪均为德国MOLLER ELCOMAT3000型双坐标自准直仪。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201521050473.9/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：扭力测试机
- 下一篇：冷却模块负载随机振动试验工装
