[实用新型]望远系统视放大率测量装置

说明书

技术领域

本实用新型属于光学检测领域，具体涉及一种望远系统视放大率测量装置。

背景技术

视放大率是望远系统最重要的光学性能之一，它表示仪器放大作用的大小。 它和其他性能指标之间有着十分密切的关系。视放大率必须满足对仪器的精度 要求，对不同的仪器精度要求也不同。随着科技的不断发展，空间遥感技术、 远程侦察技术、激光通讯技术等均需通过望远系统来获取高分辨率、高传输速 度。望远系统的各参数指标将直接影响总体性能，而视放大率作为望远系统最 重要的光学性能之一，其测量精度的需求亦越来越高。

目前对于光学系统视放大率的测量问题，主要采用两种方法：

(1)利用光学系统视放大率的定义，即像高和物高的比值来直接测量；

(2)根据光学系统视放大率与某图像高度在特定光学系统中的特定关系， 通过图像高度的获取实现对光学系统视放大率的间接测量。

无论采用以上哪种方法，均需要对像高进行判断，即利用图像所横跨像素 的个数与像素间距的乘积得到图像的高度信息。由于对于像素个数的判断只能 是整数判断，每一侧的判断最多存在±0.5个像素的误差，两个边缘就可能存在 ±1个像素的误差，图像的尺寸越小，误差也会越大，因此无法实现对视放大 率的高精度测量。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种望远系统视放大率测量装置及测量方法，解 决了传统的依赖像高判断的视放大率测量技术测量精度低的技术问题。

本实用新型的技术解决方案是：所提供的望远系统视放大率测量装置包括 激光平面干涉仪、一号双面平面镜、一号双坐标自准直仪、二号双面平面镜和 二号双坐标自准直仪；所述激光平面干涉仪位于被测望远系统的入射端；所述 一号双面平面镜一侧紧贴于被测望远系统的上壁或者下壁，一号双面平面镜的 另一侧安装一号双坐标自准直仪；所述二号双面平面镜一侧朝向被测望远系统 的出射端，二号双面平面镜的另一侧安装二号双坐标自准直仪。

上述激光平面干涉仪的激光波长为632.8nm，可以将视放大率测量精度提 高至波长量级。

上述一号双坐标自准直仪和二号双坐标自准直仪均为德国MOLLER ELCOMAT3000型双坐标自准直仪，角度测量精度优于0.2秒。

本实用新型还提供一种基于上述望远系统视放大率测量装置的测量方法， 其特殊之处在于：包括以下步骤：

1】调节被测望远系统与激光平面干涉仪、二号双面平面镜共轴；

2】开启激光平面干涉仪的测试模式；

3】调节被测望远系统与二号双面平面镜的姿态，直到激光平面干涉仪得到 零级干涉条纹，通过调整二号双面平面镜的姿态使得干涉条纹的条纹数小于或 等于三条；

4】调整一号双坐标自准直仪与一号双面平面镜自准，调整二号双坐标自准 直仪与二号双面平面镜自准；

5】将一号双坐标自准直仪和二号双坐标自准直仪在当前位置角度清零；

6】将被测望远系统水平旋转角度α；

7】调节二号双面平面镜的姿态，直到激光平面干涉仪得到零级干涉条纹， 继续调整二号双面平面镜的姿态使得干涉条纹的条纹数小于或等于三条；

8】读取一号双坐标自准直仪读数ω₁，读取二号双坐标自准直仪读数ω₂；

9】计算得到被测望远系统视放大率

本实用新型的有益效果在于：

(1)本实用新型将传统放大倍率测量方法中的以像高、物高进行计算的方 法转化为对角度的精确测量，从线量到角量的转化，使得测试精度与重复性大 大提高。

(2)本实用新型利用了激光平面干涉仪波长(632.8nm)量级的精度，保 证了被测望远系统转动前后均处于无离焦状态。使用双坐标自准直仪进行亚秒 量级的角度测量，可以将视放大率的测试精度提高到1‰以内。

附图说明

图1为本实用新型望远系统视放大率测量装置的较佳实施例结构示意图。

具体实施方式