[实用新型]一种测试PCB板材回流焊接耐热性的测试板卡有效

专利信息
申请号: 201521067429.9 申请日: 2015-12-21
公开(公告)号: CN205209998U 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 胡立燕 申请(专利权)人: 山东海量信息技术研究院
主分类号: G01N25/00 分类号: G01N25/00
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 姜明
地址: 250101 山东省济南*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 pcb 板材 回流 焊接 耐热性 板卡
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及PCB板材测试技术领域,特别涉及一种测试PCB板材回流焊接耐热性的测试板卡。

背景技术

随着电子工业的飞跃发展,特别是以服务器为代表的电子产品,向着高功能化、高多层化发展,需要PCB板材的更高的耐热性作为重要的保证。以SMT、CMT为代表的高密度安装技术的出现和发展,使PCB在小孔径、精细线路化、薄型化方面,越来越离不开板材高耐热性的支持。同时,电子产品更新换代速度越来越快,促使设计周期越来越短,选择高耐热性板材,使得大型电子产品设计周期得以保证,在长期使用时可靠性也得以保证。

基于上述问题,本实用新型设计了一种测试PCB板材回流焊接耐热性的测试板卡。

发明内容

本实用新型为了弥补现有技术的缺陷,提供了一种简单高效的测试PCB板材回流焊接耐热性的测试板卡。

本实用新型是通过如下技术方案实现的:

一种测试PCB板材回流焊接耐热性的测试板卡,其特征在于:测试板卡共26层,所述测试板卡上设有螺钉孔区,固定孔和通孔区,所述螺钉孔区位于测试板卡两侧,所述通孔区位于测试板卡中间,表面有铺铜层,所述固定孔位于螺钉孔区的对角位置和通孔区的两端。

所述螺钉孔区的螺钉孔在测试板卡各层全用大面积铜箔连接。

所述螺钉孔区的螺钉孔在测试板卡各层中一半用大面积铜箔连接,一半用花焊盘连接,大面积铜箔和花焊盘隔层交替连接,一层用大面积铜箔连接,相邻层用花焊盘连接,如此交替,大面积铜箔连接13层,花焊盘连接13层。

所述通孔区相邻通孔的中心间距为1.2mm,1.1mm,1.0mm,0.9mm,0.8mm,0.7mm或0.6mm。

本实用新型的有益效果是:该测试PCB板材回流焊接耐热性的测试板卡,各区域均加有固定孔,方便测试时固定,得出各板材耐热性情况,对后续PCB板材选型有一定的参考价值,若能很好的控制PCB板材的耐热性,相应的也能大大提高和改善PCB板材的可靠性。

附图说明

附图1为本实用新型测试PCB板材回流焊接耐热性的测试板卡示意图。

图中,1螺钉孔区,2固定孔,3通孔区。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行详细的说明。应当说明的是,此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

该测试PCB板材回流焊接耐热性的测试板卡,测试板卡共26层,所述测试板卡上设有螺钉孔区1,固定孔2和通孔区3,所述螺钉孔区1位于测试板卡两侧,所述通孔区3位于测试板卡中间,表面有铺铜层,所述固定孔2位于螺钉孔区1的对角位置和通孔区3的两端。经铺铜处理的通孔区3能够加快散热。

所述螺钉孔区1可以是以下两种结构:

(1)所述螺钉孔区1的螺钉孔在测试板卡各层全用大面积铜箔连接。

(2)所述螺钉孔区1的螺钉孔在测试板卡各层中一半用大面积铜箔连接,一半用花焊盘连接,大面积铜箔和花焊盘隔层交替连接,一层用大面积铜箔连接,相邻层用花焊盘连接,如此交替,大面积铜箔连接13层,花焊盘连接13层。

所述通孔区3相邻通孔的中心间距为1.2mm,1.1mm,1.0mm,0.9mm,0.8mm,0.7mm或0.6mm。

固定孔2位于螺钉孔区1的对角位置和通孔区3的两端,方便固定测试。测试时,真实回流炉过板,待测试板卡出炉自然冷却后,往复5次。观察板面外观有无分层、起泡,切片观察内层有无分层、起泡。

该测试PCB板材回流焊接耐热性的测试板卡,各区域均加有固定孔2,方便测试时固定,得出各板材耐热性情况,对后续PCB板材选型有一定的参考价值,若能很好的控制PCB板材的耐热性,相应的也能大大提高和改善PCB板材的可靠性。

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