[实用新型]一种单晶炉加热系统有效

专利信息
申请号: 201521135314.9 申请日: 2015-12-17
公开(公告)号: CN205241851U 公开(公告)日: 2016-05-18
发明(设计)人: 张立 申请(专利权)人: 天津长园电子材料有限公司
主分类号: C30B15/14 分类号: C30B15/14;C30B29/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 301700 天津市*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 单晶炉 加热 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及单晶硅的制造设备技术领域,尤其涉及一种单晶 炉加热系统。

背景技术

硅单晶作为一种半导体材料,主要用于光伏和半导体领域。大 部分的半导体硅单晶采用CZ(Czochralski)直拉法制造。一般采 用如下制造方法:将高纯度的多晶硅装入石英坩埚内,加热熔化, 然后,将熔硅略做降温,给予一定的过冷度,将一支特定晶向的硅单 晶体(称做硅籽晶)装入夹持器中,夹持器的上端通过联接件与籽 晶轴连接,硅籽晶固定于夹持器下端,使夹持器在籽晶轴的带动下旋 转,并使石英坩埚在石墨中轴的带动下反向旋转,将硅籽晶慢慢下降, 并与硅熔体接触,然后以一定的速度向上提升硅籽晶,此过程的目的 主要是消除硅籽晶中因热冲击形成的位错缺陷。待硅籽晶提升到一 定长度时,通过调整熔体的温度和硅籽晶向上的提升速度,使硅籽晶 长大,当晶体的直径接近目标直径时,提高提升速度,使单晶体近乎 等直径生长。在生长过程的尾期,石英坩埚内的硅熔体剩余不多时, 提高晶体的提升速度,同时适当增加加热的功率,使晶体渐渐缩小, 从而形成一个尾形椎体,当椎体的尖足够小时,晶体就会与熔体脱离, 从而完成晶体的生长过程。

当拉制掺杂剂采用不易挥发的母合金硼、磷的单晶硅时,先将掺 杂剂预先放入石英坩埚;当拉制掺杂剂采用易挥发的纯元素锑、磷、 砷的单晶硅时,不能将掺杂剂预先放入石英坩埚,必须放在掺杂勺内, 拉晶过程将掺杂勺移到坩埚中心,将掺杂剂倒入坩埚,才能保证掺杂 准确。

直拉法的优点是晶体被拉出液面不与器壁接触,不受容器限制, 因此晶体中应力小,同时又能防止器壁沾污或接触所可能引起的杂乱 晶核而形成多晶。此法制成的单晶完整性好,直径和长度都可以很大, 生长速率也高。所用坩埚必须由不污染熔体的材料制成。

影响直拉法晶体质量有以下几个方面:

(1)直拉法生产单晶硅时需要将块状的高纯度多晶硅置于石英 坩埚内,加热到其熔点1420℃以上,使其完全融化,然而融化的硅 熔体会与石英坩埚内壁产生化学反应,对石英坩埚内壁产生侵蚀,影 响石英坩埚的在高温下的强度,同时也降低了单晶硅晶体的晶格完整 性。

(2)拉晶过程中,盛料的石英坩埚被置于加热器内部,坩埚上 部是敞开系统,没有保温或保温效果差,且保护气的流动带走大量热 量,而加热器侧面和底部保温效果好,因此,石英坩埚中熔体的温度 随熔体的深度加深越来越高,从而形成较大的温度梯度,熔体的温度 随熔体的深度加深不断升高,从而使温度梯度引起的热对流加剧,进 而导致晶体中缺陷密度急剧加大;另外硅熔体侵蚀石英坩埚导致坩 埚中的杂质氧随对流增加进入晶体的机会也大幅增加。

实用新型内容

本实用新型目的是提供一种单晶炉加热系统。

本实用新型的技术方案为:一种单晶炉加热系统,由内到外依次 包括坩埚、辅助加热系统、加热套和保温罩,所述坩埚内壁涂有防止 熔硅腐蚀的保护涂层,所述坩埚底部设置有拖杆底座,所述拖杆底座 与拖杆固定连接,所述拖杆外周设置有拖杆护套,所述坩埚外部设置 有加热套,所述加热套为敞口结构、上窄下宽的石墨加热条,所述加 热套与坩埚之间设置有辅助加热系统,所述辅助加热系统上部设置有 圆环形的加热板,所述加热板圆环内对称位置各设置有一个杂质加料 口。保温罩底部一侧设置有抽真空和充保护气的气体出入口。

进一步,所述加热套的石墨加热条为梯形,上底是下底边长的二 分之一。

进一步,所述圆环形加热板的内圆半径大于单晶硅产品直径。

本实用新型的有益效果在于:在坩埚内涂有防止熔硅腐蚀的保护 涂层,防止坩埚引入杂质;在加热套内部设置保温罩,补偿加热,减 少由于晶体成型造成的纵向温差。

附图说明

图1为本实用新型的示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做出简要说明。

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