[发明专利]立体观察装置用的控制装置、立体观察系统和立体观察装置的控制方法

权利要求书

1.一种立体观察装置用的控制装置，该立体观察装置利用多个光学系统进行基于视差的立体观察，其中，所述控制装置具有：

开始时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间；

切断时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间；

非工作时间计算部，其计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间；以及

判定部，其在所述非工作时间比规定时间长时，判定为需要进行芯偏移校正，在所述非工作时间不比规定时间长时，判定为不需要进行所述芯偏移校正，其中所述芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正。

2.根据权利要求1所述的控制装置，其中，

所述控制装置还具有：

上次开始时间取得部，其使记录部记录所述上次通电开始的上次开始时间；以及通电时间计测部，其计测通电时间，使所述记录部记录该通电时间，其中该通电时间是从所述上次开始时间起的经过时间，表示被通电的时间，

所述切断时间取得部根据所述上次开始时间和所述通电时间确定所述切断时间。

3.根据权利要求2所述的控制装置，其中，

所述记录部被配置在所述立体观察装置中。

4.根据权利要求1所述的控制装置，其中，

所述控制装置还具有2D/3D切换部，该2D/3D切换部在需要进行所述芯偏移校正但是还未进行所述芯偏移校正时，执行使用所述多个光学系统中的任意一个的二维观察，在所述芯偏移校正结束后，执行所述立体观察。

5.根据权利要求4所述的控制装置，其中，

所述芯偏移校正是如下校正：设所述多个光学系统中的任意一个为基准光学系统，使利用所述多个光学系统中的其他光学系统取得的图像的位置对应于利用所述基准光学系统取得的图像而变化，

使用所述基准光学系统进行所述二维观察。

6.根据权利要求4所述的控制装置，其中，

针对利用所述多个光学系统中的各个光学系统取得的各个图像设置基准位置，所述芯偏移校正是使所述各个图像的位置变化成与各个所述基准位置一致的校正，

所述二维观察是使用所述多个光学系统中的任意一个而进行的。

7.根据权利要求1所述的控制装置，其中，

在所述立体观察装置中设置有记录所述切断时间的记录部，

所述切断时间取得部从所述记录部取得所述切断时间。

8.根据权利要求1所述的控制装置，其中，

在所述立体观察装置中保持有按照每个所述立体观察装置而固有的识别信息，

所述控制装置还具有记录部，该记录部记录所述识别信息和所述切断时间的组合。

9.根据权利要求1所述的控制装置，其中，

所述控制装置还具有报知部，该报知部在判定为需要进行所述芯偏移校正时，报知需要进行所述芯偏移校正的意思。

10.根据权利要求1所述的控制装置，其中，

所述控制装置还具有芯偏移校正部，该芯偏移校正部通过使利用所述多个光学系统取得的多个图像的位置关系变化，进行所述芯偏移校正。

11.一种立体观察系统，其具有：

立体观察装置，其利用多个光学系统进行基于视差的立体观察；

开始时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间；

切断时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间；

非工作时间计算部，其计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间；

判定部，其在所述非工作时间比规定时间长时，判定为需要进行芯偏移校正，在所述非工作时间不比规定时间长时，判定为不需要进行所述芯偏移校正，其中所述芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正；以及

图像处理部，其根据利用所述多个光学系统取得的多个图像构建三维影像，该图像处理部在需要进行所述芯偏移校正时，通过使所述多个图像的位置关系变化，进行所述芯偏移校正。

12.一种立体观察装置的控制方法，该立体观察装置利用多个光学系统进行基于视差的立体观察，其中，所述控制方法包括以下步骤：

取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间；

取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间；

计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间；以及

在所述非工作时间比规定时间长时，判定为需要进行芯偏移校正，在所述非工作时间不比规定时间长时，判定为不需要进行所述芯偏移校正，其中所述芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正。