[发明专利]立体观察装置用的控制装置、立体观察系统和立体观察装置的控制方法有效

专利信息
申请号: 201580003258.X 申请日: 2015-07-21
公开(公告)号: CN105830441B 公开(公告)日: 2017-08-22
发明(设计)人: 西垣泰宏;沟口正和 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: H04N13/02 分类号: H04N13/02;A61B1/04;H04N5/225;H04N5/232
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 李辉,黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 立体 观察 装置 控制 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及立体观察装置用的控制装置、立体观察系统和立体观察装置的控制方法。

背景技术

根据利用2个光学系统得到的2个图像和它们的视差进行立体观察的三维内窥镜装置的技术例如在日本特开2013-090035号公报中被公开。在日本特开2013-090035号公报中公开了,在将三维内窥镜放置于例如高压蒸汽灭菌器中时,在三维内窥镜的光学系统中产生芯偏移。如果不对这样产生的芯偏移实施校正,则无法构建正确的三维影像。在日本特开2013-090035号公报中公开了通过平行移动处理使右眼用图像与左眼用图像一致的芯偏移校正。另一方面,在不需要对芯偏移进行校正时进行芯偏移校正是很麻烦的。

发明内容

本发明的目的在于,提供判定是否需要进行芯偏移校正的立体观察装置用的控制装置和立体观察装置的控制方法。

根据本发明的一个方式,在立体观察装置用的控制装置中,该立体观察装置利用多个光学系统进行基于视差的立体观察,其中,所述控制装置具有:开始时间取得部,其取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间;切断时间取得部,其取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间;非工作时间计算部,其计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间;以及判定部,其根据所述非工作时间判定是否需要进行芯偏移校正,其中该芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正。

根据本发明的一个方式,立体观察系统具有:立体观察装置,其利用多个光学系统进行基于视差的立体观察;开始时间取得部,其取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间;切断时间取得部,其取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间;非工作时间计算部,其计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间;判定部,其根据所述非工作时间判定是否需要进行芯偏移校正,其中该芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正;以及图像处理部,其根据利用所述多个光学系统取得的多个图像构建三维影像,该图像处理部在需要进行所述芯偏移校正时,通过使所述多个图像的位置关系变化,进行所述芯偏移校正。

根据本发明的一个方式,在立体观察装置的控制方法中,该立体观察装置利用多个光学系统进行基于视差的立体观察,其中,所述控制方法包括以下步骤:取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间;取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间;计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间;以及根据所述非工作时间判定是否需要进行芯偏移校正,其中该芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正。

根据本发明,提供判定是否需要进行芯偏移校正的立体观察装置用的控制装置和立体观察装置的控制方法。

附图说明

图1是示出本发明的第1实施方式的内窥镜系统的结构例的概略的框图。

图2是示出第1实施方式的处理的一例的流程图。

图3是示出第1实施方式的芯偏移校正处理的一例的流程图。

图4是示出第1实施方式的变形例的内窥镜系统的结构例的概略的框图。

图5是示出第2实施方式的内窥镜系统的结构例的概略的框图。

具体实施方式

[第1实施方式]

参照附图对本发明的第1实施方式进行说明。作为本发明的立体观察系统的一个实施方式,以内窥镜系统10为例进行说明。图1示出本实施方式的内窥镜系统10的结构例的概略。内窥镜系统10具有三维内窥镜200、控制装置100、显示装置310。

三维内窥镜200是具有利用视差取得三维图像的立体观察装置用的功能的内窥镜。因此,三维内窥镜200具有2个摄像部。即,三维内窥镜200具有第1摄像部212和第2摄像部214。第1摄像部212和第2摄像部214分别具有未图示的透镜等光学系统和摄像元件等。第1摄像部212和第2摄像部214分别生成图像信号。

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