[发明专利]磁共振成像装置有效
申请号: | 201580011025.4 | 申请日: | 2015-08-06 |
公开(公告)号: | CN107072586B | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 谷口阳;横泽俊;越智久晃;白猪亨;黑川真次 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;王立杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 | ||
1.一种磁共振成像装置,其特征在于,具备:
参数推定部,其使用多个重构图像以及取得该重构图像时所依照的摄影时序的信号函数,来推定依存于被检测体的一个以上的被检测体参数以及依存于装置的一个以上的装置参数中的至少一个推定参数的值,其中,
上述多个重构图像是使用多个摄影参数组,依照上述摄影时序进行摄像,分别取得的重构图像,
上述信号函数是按照每个上述摄影时序确定摄影参数、上述被检测体参数以及上述装置参数与上述重构图像的各像素值之间的关系的函数,
上述参数推定部使用对每个上述推定参数最优的分辨率的上述重构图像来推定上述值。
2.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述多个重构图像分别具有每个上述推定参数的最优分辨率中的最高的分辨率即最高分辨率,
上述参数推定部针对上述最优分辨率比上述最高分辨率低的推定参数,将上述重构图像的分辨率降低为对该推定参数最优的分辨率,推定上述值。
3.根据权利要求2所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述参数推定部从上述最优分辨率低的上述推定参数开始顺序地推定上述值,并且在推定时,将已经推定出的推定参数的值调整为对推定对象的上述推定参数最优的分辨率,与上述信号函数一起使用。
4.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述推定参数包含接收线圈灵敏度、高频磁场强度以及共振频率差的至少一个。
5.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述推定参数包含纵缓和时间、横缓和时间以及质子密度的至少一个。
6.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述多个重构图像由具有第一分辨率的第一重构图像、具有与上述第一分辨率不同的第二分辨率的第二重构图像构成,其中,上述第一分辨率是上述推定参数中上述最优的分辨率最高的推定参数的该最优的分辨率。
7.根据权利要求6所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述第一重构图像是通过多回波时序取得的多回波图像,
上述参数推定部根据上述多回波图像,推定上述推定参数中的共振频率差的值。
8.根据权利要求7所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述参数推定部将上述多回波图像的分辨率调整为上述第二分辨率,将调整后的多回波图像和上述第二重构图像与上述信号函数一起使用,推定上述共振频率差以外的上述推定参数的值。
9.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
还具备:重构图像取得部,其取得上述多个重构图像。
10.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
对于上述多个摄影参数组,上述摄影参数中的重复时间、高频磁场的强度、高频磁场的相位的至少一个值分别不同。
11.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
上述重构图像的张数是上述推定参数个数以上。
12.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
还具备:显示图像生成部,其使用推定出的上述推定参数的值、预先确定的摄影时序的信号函数,得到该摄影时序的预先确定的画质的图像。
13.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
还具备:接受部,其接受上述推定参数的指示,
上述接受部经由推定参数接受画面,接受上述推定参数的设定,
重构图像取得部依照包含与接受的推定参数对应地预先保存的上述最优的分辨率的摄影条件,取得上述重构图像。
14.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
针对多个不同的上述摄影参数和上述被检测体参数的组合,分别执行数值模拟,对得到的结果进行插补,由此生成上述信号函数。
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