[发明专利]磁共振成像装置有效

专利信息
申请号: 201580011025.4 申请日: 2015-08-06
公开(公告)号: CN107072586B 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 谷口阳;横泽俊;越智久晃;白猪亨;黑川真次 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 范胜杰;王立杰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 成像 装置
【说明书】:

本发明提供一种技术,在使用同时生成多个参数的计算图像的方法的情况下,也提高计算图像的画质、参数推定精度。因此,本发明使用对各个推定对象的参数最优的分辨率的重构图像,推定该参数的值,得到该参数的值的分布即计算图像。通过调整在摄影时以推定对象的参数中的、最优分辨率最高的推定参数的最优分辨率取得的重构图像的分辨率,而得到最优分辨率的重构图像。或者,在摄影时,只对计算预定的推定对象参数时使用的重构图像,以对该推定对象参数最优的分辨率而取得。

技术领域

本发明涉及一种磁共振成像(MRI:Magnetic Resonance Imaging)技术。特别涉及通过计算推定被检测体参数的技术。

背景技术

MRI装置是一种医用图像诊断装置,其使横断被检测体的任意的平面内的氢原子核引起核磁共振,根据所产生的核磁共振信号(NMR信号:回波信号)摄影核磁共振平面内的断层像。一般,与施加用于确定摄影面的切片倾斜磁场同时地,赋予激励该面内的磁化的激励脉冲,由此得到在所激励的磁化收敛的阶段产生的回波信号。这时,对磁化赋予位置信息,因此在从激励到得到回波信号的期间,在断层面内施加相互垂直的方向的相位编码倾斜磁场和读出倾斜磁场。

根据预先设定的脉冲时序,施加用于产生回波信号的激励脉冲和赋予位置信息的各倾斜磁场。根据目的已知有各种该脉冲时序。例如,在梯度回波(GE) 类型的高速摄影法中,使该脉冲时序重复工作,在每次重复时顺序地改变相位编码倾斜磁场,由此顺序地测量得到一张断层像所需个数的回波。

在MRI中,一般通过重构所得到的回波信号而得到图像。除此以外,有根据使用不同的摄影参数执行脉冲时序所得到的多个图像,通过计算对每个像素求出希望的定量值而得的定量值图像(计算图像、参数分布、参数图表)。在计算的定量值中有被检测体参数、装置参数等。

摄影参数是重复时间、高频磁场的设定强度、高频磁场的相位等在摄影时设定的参数,被检测体参数是纵缓和时间T1、横缓和时间T2、自旋密度ρ、共振频率f0、扩散系数D、高频磁场的照射强度分布(B1分布)等被检测体的物性值、依存于它的值,装置参数是磁场强度B0、接收线圈的灵敏度分布 Sc等依存于摄影所使用的MRI装置的参数。

一般,解析地求出摄影参数、被检测体参数或装置参数与像素值之间的关系作为信号函数,使用该信号函数,得到上述定量值。但是,根据摄影时序的不同,有时没有解析地求出信号函数。在这样的摄影时序的情况下,存在以下的方法,即通过数值模拟生成信号函数,由此生成计算图像(例如参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2011-024926号公报

发明内容

发明要解决的问题

根据推定对象的参数计算图像的最优的分辨率不同。例如,作为被检测体参数的B1分布在空间上平滑地变化,因此与T1、T2分布相比,不需要高分辨率。在分别测量计算各个参数的现有的方法的情况下,能够对各参数以最优的分辨率计算出计算图像。

但是,在专利文献1所公开的方法中,同时生成多个被检测体参数和装置参数的计算图像。因此,最优的分辨率被固定为最高的参数的分辨率,而计算全部的计算图像。例如,在同时计算B1、T1、T2、ρ的分布时,也以与其他分布相同的高分辨率求出B1分布的分辨率。但是,以高分辨率计算出不需要高分辨率的参数的计算图像(例如B1分布),由此SN比降低,其结果造成计算图像的画质、精度的降低。

本发明就是鉴于上述情况而提出的,其目的在于:提供一种技术,其在使用同时生成多个参数的计算图像的方法的情况下,也提高计算图像的画质、参数推定精度。

用于解决问题的手段

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