[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201580033589.8 | 申请日: | 2015-06-01 |
公开(公告)号: | CN106471376B | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 小西励;佐野稔;牧野彰久 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/10 | 分类号: | G01N35/10;G01N35/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 周全 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,具备:
反应容器,其分注有试料和试药;
分注取样器,其向该反应容器吐出该试药;
清洗槽,其清洗所述分注取样器;
控制部,其控制所述分注取样器的动作;以及
分析部,其由将光向容纳了该试料与该试药的混合液的反应容器照射的光源以及对从该光源照射的光进行接收的受光部构成,基于该接收到的光来分析该试料,
所述自动分析装置的特征在于,
所述反应容器具有台阶部,该台阶部被形成为沿内部侧壁面呈圆环状地突出,
所述控制部使所述分注取样器下降从而所述分注取样器的前端位于所述台阶部的下方,
水平移动所述分注取样器从而对于所述台阶部形成对吐出的该试药的上升进行抑制的接触部,在使该分注取样器与该台阶部接触的状态下吐出该试药。
2.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
以所述台阶部为界,所述台阶部的开口部侧的邻近领域中的所述分注取样器与所述反应容器的内壁侧壁面的距离大于所述台阶部的底部侧的邻近领域中的该距离。
3.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
以所述台阶部为界,所述台阶部的开口部侧的邻近领域中的所述反应容器的内径大于所述台阶部的底部侧的邻近领域中的该内径。
4.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部在所述分注取样器将保持的试药吐出后,所述分注取样器在与所述台阶部接触的状态下上升。
5.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部在所述分注取样器将保持的试药吐出后,使所述分注取样器接近所述反应容器的中心轴后再上升、或者向斜上方移动。
6.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述反应容器具有两个以上所述台阶部,
所述控制部在使所述分注取样器接触该两个以上所述台阶部的状态下吐出所述试药。
7.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述反应容器构成为所述台阶部的下方的内径越接近底部侧越小,
所述控制部在使所述分注取样器的第一部分与所述台阶部接触、使位于比所述第一部分更靠近前端侧的所述分注取样器的第二部分与处于所述台阶部下方的所述反应容器的内部侧壁面接触的状态下,吐出所述试药。
8.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部控制所述清洗槽,使得不对所述分注取样器中、自吐出试药时与所述台阶部相接触的位置至所述反应容器的开口部的区域的一部分进行洗净。
9.一种自动分析装置,具备:
反应容器,其分注有试料和试药;
分注取样器,其向该反应容器吐出该试药;
清洗槽,其清洗所述分注取样器;
控制部,其控制所述分注取样器的动作;以及
分析部,其由将光向容纳了该试料与该试药的混合液的反应容器照射的光源以及对从该光源照射的光进行接收的受光部构成,基于该接收到的光来分析该试料,
所述自动分析装置的特征在于,
所述控制部在使所述分注取样器的前端接触或接近内部侧壁面的状态下吐出该试药,
(1)所述反应容器在所述分注取样器的前端所接触或接近的位置的上方具备内径向外侧扩展的台阶部,通过所述台阶部来抑制从所述分注取样器吐出的该试药的上升,或者
(2)所述分注取样器具有包括弯曲部的形状,具备从所述分注取样器的根部延伸的第一轴以及在所述弯曲部的下方包含所述分注取样器的前端的第二轴,通过所述弯曲部来抑制从所述分注取样器吐出的该试药的上升。
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